双色反射技术在温度测量上的应用研究.pdfVIP

中国工程热物理学会 传热传质学 学术会议论文 编号：083538 双色反射技术在温度测量上的应用 1 2, 1 3 2 朱映山 , P.Herve 常海萍 ,Ionut ,Julie Cedelle 1: 南京航空航天大学能源与动力学院, 南京市 210016 2: Laboratoire d’Energétique et d’Economie d’Energie, Université Paris X 3: Laboratoire de mécanique des solides, Ecole Polytechnique 91128 Palaiseau Cedex 电话 :02584892200-2312 E-mail :zhuyingshan@163.com 摘要：本文以铁镍合金为例，介绍了一种测量金属表面温度的光学测量方法。试验以黑体为反射辐射 源，采用FTIR光谱辐射计测量了试样在中温状态的发射辐射以及包含了黑体反射能量的有效辐射。通 过建立包含反射辐射的方程组, 并运用MATLAB内建的求根模型求解得到了试样表面温度。 关键词：红外光谱 双色 发射率 反射率 温度测量 前言 与传统测温方法相比,光学测温技术的最大优势在于非接触测量,并且具有高速测量 [2] 的特点。光学测温技术一般包括总温测量法,单色法,双色法 。这些方法得到了广泛的 应用,它们各自有其适用范围和优缺点。在工业应用上，比如对中温状态下一些低发射率 金属表面温度的研究,传统的测温方法受到种种限制，而直接测量辐射的方法也存在一定 的困难。本文介绍了一种双色反射技术，采用通过测量反射辐射光谱,选择双波长构造方 程组的方法来计算确定金属试样的表面温度。 1 基本原理 [1][2][5] 图 1 为试验设置图,在某一温度 下，如不加入黑体源反射辐射，落入 辐射计的能量包含背景辐射Mb 和测量 表面的发射辐射 M。Mb 可以通过室温 下测量待测表面的辐射得到。若消去 Mb ，则对于任意双波长： , ，可以 λ1 λ2 得到相应的发射辐射亮度M ,M 。 1 2 根据发射率定义可得到下列方 0 程： (1) M ε ⋅LλT 1 1 1 0 M ε ⋅ (2) 2 2 Lλ T 2 ε ε 1 2 其中， , : 给定温度下双波长各自 图 1 试验设置 0 0 L L 的发射率。 , : 给定温度下双 λT λ T 1 2 波长各自对应的黑体辐射亮度。在加入黑体辐射源后, FTIR光谱辐射计接收到的辐射为 测量表面的发射辐射与黑体源反射辐射以及背景辐射Mb 之和。将相应双波段的结果与上 面测得的 M ,M 相减并消去 M ，可以得到测量表面的反射 辐射 R , R 。由此，可以写出 1 2