脑电图在小儿高热惊厥的临床价值.docVIP

精品论文 参考文献 脑电图在小儿高热惊厥的临床价值 刘雯霞 高晶 熊柳(武汉市黄陂区人民医院 湖北武汉 430300 ) 【摘要】目的：探讨脑电图（EEG）检查在热性惊厥患儿预后评估中的价值。方法：结合46例热性惊厥患儿的临床及EEG资料进行回顾性分析。结果：患儿的首次发作年龄、发作次数、发作时的临床表现、家族史及既往史对EEG表现有较大的影响，首次发作越少，异常率越低，3次以上发作的患儿有异常EEG表现的达50%以上，40例预后良好，6例移行为癫痫，此6例EEG脑电图为重度异常。结论：热性惊厥及癫痫家族史是否呈局限性发作，首次发作年龄，发作次数是判定其转归的重要因素。 【关键词】热性惊厥 脑电图 复发 预后 热性惊厥是小儿常见病，反复发作可引起脑损伤，给患儿及家属以后的生活及生存质量带来影响。所以以预防为主，其预后多数良好。但也有反复发作转变为癫痫智力低下者，因此对其不能掉以轻心，现将我院2010—2011年高热惊厥的患儿临床资料，结合脑电图检查进行回顾性分析，对其首发年龄，惊厥家族史，惊厥发作类型和病史与预后关系及本病合理预防措施进行分析讨论，以探讨EEG检查在热性惊厥预后判断中的价值。 1 资料与方法 本组资料共46例，年龄约6月—10岁，其中男孩30例，女孩16例， 6个月—3岁28例，4—7岁13例，7岁以上共5例，其中首次发作15例，临床发作2次共18例，临床发作3次以上者13例，有热性惊厥家族史10例，癫痫家族史2例，有15例反复进行了2次及2次以上检查，所有患儿的EEG检查在发作后1天—4天进行。 2 检查方法 全部患儿均采用日本光电5518型全数字化脑电图仪，按国际10—20系统标准选择放置10个柱状银电极，分别是双侧额、中央、枕区及颞区，时间常数0.3s,标准电压为10mu;v∕mm，高频滤波30Hz，纸速3cm∕s，行参考导联，双极导联自然睡眠及部分剥夺睡眠（即根据年龄组的不同，指导家长比平时提前4—8小时唤醒患儿，陪伴其玩耍，保持清醒状态并坚持到来院检查时在让其入睡），描记时间20-30min）.标准：按照冯氏标准将异常脑电图分为轻、中、重三度[1]，并参照其临床诊断及其他检查结果进行分析。 3 结果 正常有10例，脑电图异常36例，占78.6%，其中轻度异常为18例，12例为两枕区慢活动明显增多，5例为背景活动偏慢，1例为两颞，两枕区慢活动明显增多。中度异常为2例，有1例为睡眠中颞区出现小棘波发放，1例为睡眠纺锤波明显尖化。重度为6例，其脑电图为多灶性痫性放电。 4 讨论 小儿高热惊厥常见，在婴幼儿期多见，好发年龄为6个月—5岁，以9个月—20个月为高峰，其机制可能与小儿脑发育不成熟，神经细胞结构简单，髓鞘生成缺乏，神经元的树突发育不完善等有关，这一时期的小儿呼吸系统和神经系统发育特点以及免疫系统发育不成熟有关，其脑细胞结构简单，胞浆、胞膜分化不全，其功能分化以及轴、树突分支，不全，髓鞘分支不完善，神经髓质和神经细胞之间的正常联系尚未建立，兴奋性、抑制性神经介质不平衡，惊厥阈值低，遇高热时发生高热惊厥[2]，根据发作类型分两型：简单及复杂型。高热惊厥容易再发的危险因素有[3]，①首发年龄﹤12个月者。②首发时温度较低或发热1小时内发作惊厥者。③首次发作为复杂型高热惊厥。④有家族阳性惊厥史：FC患儿发病率2%--3%[4]，男性患儿高于女性，与福山幸夫[5]报告一致，可能与男孩脑发??的成熟度以及由此制约的对周围环境的适应度低于同龄女孩有关，随着年龄增大，脑波发育成熟度增加，在高热时兴奋细胞的泛化可引起惊厥，所以预防高热惊厥是防止惊厥的关键，惊厥发作时造成暂时小儿脑缺血缺氧，反复发作即可引起大脑某部的损害和智力减退。如果控制不好容易转变为癫痫。 脑电图以作为热性惊厥的常见检查，而且作为一项无创伤的检查，可早期了解脑功能损害的程度，可帮助临床诊断治疗，发作的转归及预后有重要意义，使脑损害程度降至最低，避免造成不可逆的脑损害。对EEG检查显示为异常EEG表现的患儿应在发热间歇期多次复查，以早期明确其转归，提高患儿的生活及生存质量，所以我们认为随诊追踪其脑电改变是很有必要的。 参考文献 [1]冯应琨.临床脑电图学，北京：人民卫生出版社.1980，,63-64 [2]孔祥和.小儿惊厥[M].北京.人名卫生出版社.1999.219-229 [3］李瑞林.郭亚乐.周戳平.热性惊厥的新进展[J]临床儿科杂志. 2002，20（4）:245-246 [4]邵新华，吴洁，鲍克容. 168例高热惊厥患儿的转归及预后分析[J]，