仪器分析第12章 原子吸收光谱.ppt

石墨炉原子化器与火焰原子化器比较有如下优点： 1）原子化效率高，达到90%以上，而后者只有10%左右。 2）绝对灵敏度高（可达到10-12～10-14），试样用量少。适合于低含量及痕量组分的测定。 3）温度高，在惰性气氛中进行且有还原性C存在，有利于易形成难离解氧化物的元素的离解和原子化。 * 缺点： 基体干扰---管壁的时间不等温性---管内的空间不等温性 精密度差、记忆效应严重 ②低温原子化器 Hg、As、Se等元素的原子化温度较低，甚至在室温就可挥发为原子蒸气。 包括汞蒸汽原子化和氢化物原子化。 1）汞蒸汽原子化（测汞仪） 将试样中汞的化合物以还原剂（如SnCl2）还原为汞蒸汽，并通过Ar 或N2 将其带入吸收池进行测定。 * 2）氢化物原子化 在一定酸度条件下，将试样以还原剂（NaBH4）还原为元素的气态氢化物，并通过Ar或N2将其带入热的石英管内原子化并测定。 * * 检测器接受光源信号的同时，也接受日光信号、火焰中分子发射信号，怎样区分这两种信号？ * 12.3 干扰因素及消除方法 电离干扰 化学干扰 物理干扰 光谱干扰 如：粘度不同——影响样品的提升量 表面张力的不同——影响气溶胶雾滴的直径的大小 消除的方法： a、尽量使标准溶液与未知溶液的组成相同或采用标准加入法。 b、若样品中含盐类或酸类浓度过高时，可采用稀释的方法将样品溶液稀释至无干扰可以忽略为止。（待测元素仍可测出）。 1. 物理干扰 ——是溶液中的溶质或溶剂发生变化时，导致溶液的物理性质发生变化，使雾化效率不同所带来的误差。 * 2. 电离干扰 产生的原因： 基态原子M Mn++ne 对分析结果的影响： 分析结果偏低 影响电离的因素： ⅰ、火焰的温度越高，电离越严重； ⅱ、元素的电离电位越低，电离越容易发生； ⅲ、待测元素的浓度越低，越容易电离。 * 消除电离的方法： ① 降低火焰温度。 ② 加大火焰中待测元素的浓度。 ③ 在分析试样溶液中加入消电离剂（200~500μg/mL的钾或铯盐） 3. 化学干扰 ——火焰中由于发生了对待测元素有影响的化学反应（形成某种难挥发化合物或难离解的氧化物和氢氧化物）而使被测元素的原子化程度发生变化的现象。 例一、测定Ca时，当有H3PO4存在，在火焰中就会形成 Ca3(PO4)2 。 例二、在空气—乙炔火焰中测定镁，若有铝存在，火焰中形成难挥发的化合物： MgO·Al2O2 * 消除干扰的方法： 高温原子化 加入释放剂 La、Sr释放Ca3(PO4)2中的Ca 加入保护剂 配位剂EDTA等 加入基体改进剂 NaCl到NaNO3 4.光谱干扰 (1) 光谱线干扰 a、非吸收线未能被分开 b、存在两条或多条吸收线 c、吸收线重叠 消除方法： ⅰ、适当减小狭缝宽度； ⅱ、另选无干扰的吸收线。 ⅲ、分离干扰元素。 * （2）背景吸收干扰 a、分子吸收—由于原子化过程中生成的氧化物及盐类对辐射的吸收所造成 * b、光散射--在原子化过程中产生的固体微粒对光的散射所造成。 * （3）背景校正方法 A Ab At = A + Ab A = At - Ab At * 1）邻近非共振线背景校正法 A Ab 分析线 非共振线 At 2) 连续光源校正背景 连续光源 紫外区：氘灯 可见区：碘钨灯 { 空心阴极灯 * A = At - Ab 3) 校正背景 有磁场 无磁场 Mg 285.2 nm 能级分裂示意图 强度 塞曼效应 一条光谱线在外加磁场作用下分裂成几条偏振化的谱线的现象 偏振方向平行于磁场方向，波长不变 偏振方向垂直于磁场方向，波长变化 * 恒定磁场调制方式 } 平行于磁场方向的偏振光通过 原子吸收+背景吸收 垂直于磁场方向的偏振光通过 背景吸收 差值 原子吸收 * * 高温 低温 4）自吸效应校正背景 1 标准曲线法 计算法 2 标准加入法 作图法 浓度直读法 3 内标法 内标标准曲线法 内标计算法 定量分析：基于比尔定律 * * （一） 原子荧光光谱的产生 气态自由原子吸收特征辐射后跃迁到较高能级，然后又跃迁回到基态或较低能级。同时发射出与原激发辐射波长相同或不同的辐射即原子荧光。 原子荧光光谱法 * 原子荧光为光致发光，激发光源停止时，再发射过程立即停止。 (二) 原子荧光的类型 原子荧光主要有两大类:共振原子荧光—— ?A= ?荧 非共振原子荧光—— ?A≠ ?荧 1. 共振原子荧光 En E1 E0 气态