非金属矿物加工与利用_第4讲.pptVIP

硅酸盐矿物选矿与提纯技术 硅酸盐矿物浮选的意义与研究进展 硅酸盐矿物的晶体结构特性及表面特征 典型硅酸盐矿物的选矿与提纯技术 双电层： 硅酸盐矿物在水溶液中会发生表面吸附或解离，固液界面就分布有与表面异名的电荷，使矿物与水溶液界面形成电位差，即形成双电层。硅酸盐矿物的表面电性与矿物的晶体化学特征及解离后表面暴露元素的性质密切相关。 因此，研究矿物在纯水中及药剂作用下的表面电性及其与矿物晶体化学特征和表面暴露元素性质之间的关系具有重要的理论意义。 1 纯水中硅酸盐矿物表面电性及其与矿物晶体化学特征的关系 在无浮选药剂作用下，矿物荷电的原因主要有以下两个方面 矿物表面组分的优先解离或溶解。矿物在水中，其表面受到水偶极的作用，由于正、负离子受水偶极的吸引力不同，会产生非等当量的转移，有的离子会优先解离（或溶解）转入溶液，从而使表面产生过剩的电荷而荷电； 矿物解离后吸引H+或OH-。许多难溶矿物，如石英及一些硅酸盐矿物，在水中先形成羟基化表面，使表面荷负电。 25oC时，上式可变为 由于矿物表面电位与动电电位是一致的，可以用ζ电位来表征矿物表面荷电的正负及相对大小。 对于大部分硅酸盐矿物来说，在水溶液中荷负电，只有在强酸性条件下才荷正电。 岛状结构硅酸盐矿物在纯水中表面电性小结 岛状结构硅酸盐矿物，独立的[SiO4]四面体结构靠阳离子联结，矿物解离时M-O键大多断裂，使其解离面暴露较多的多价金属阳离子，故矿物表面阳离子对于阴离子的密度大，这导致在中强酸性条件下矿物表面荷正电。 随pH的增加，矿物表面暴露离子（包括Si4+）由于键合大量羟基而荷负电。另外在试验的介质条件下，岛状结构硅酸盐矿物如石榴子石表面的部分阳离子的溶解性增加，这也是造成矿物表面负电性增加的一个原因。 环状结构硅酸盐矿物在纯水中表面电性小结 绿柱石为六环结构硅酸盐矿物，矿物解离时，由于结构中Si-O键较强，矿物解离时M-O键为主要断裂键，矿物表面必然暴露有阳离子。这些阳离子的溶解导致表面正电荷短缺。 (1)绿柱石在较宽的pH值范围内均荷负电 (2)零电点与岛状结构矿物相比较低。 链状结构硅酸盐矿物在纯水中表面电性小结 单链状结构硅酸盐矿物解离表面阳离子对于阴离子的相对密度较小， 另一方面，矿物表面上Si、O及部分外露的阳离子会以不同的方式键合羟基。故此类矿物的零电点较低，在很宽的pH值范围内带负电。 双链结构的硅酸盐矿物比单链结构矿物零电点高。这是由于双链间可以形成更大的空隙，可以容纳更多的阳离子，矿物表面正电性强，零电点相应较高。 层状结构硅酸盐矿物在纯水中表面电性小结 以云母为典型代表的层状结构硅酸盐矿物由于解离面与端面的面积比很大，因此表面上主要是硅氧四面体阴离子，表面多价阳离子对阴离子的相对密度较低。另外，由于暴露于表面上K+极易溶解，与水溶液中H+交换，云母矿物表面具有极强的键合羟基的能力，因此矿物表面带有相对较为恒定的负电荷，零电点极低。 云母主要成份： 高岭石属于TO型结构，即由[SiO4]四面体层和“氢氧铝石”层连结而成。 每个结构单元层的氧与相邻单元层的八面体层的氢氧形成氢键，结构单元层间靠氢键联结成重叠的层状堆叠。层间力为氢键或范德华力，解离时沿与层平行的方向劈开。 断裂后高岭石产生两个性质不同的表面，即底面(或称层面)和端面(或称棱面)。底面Si4+ 被A13+、Fe3+类质同象取代， A13+ 被Mg2+、Fe2+置换，导致品格中正电荷不足，故使底面恒定带负电。 另外底面的晶格缺陷(如脱位、局部键断裂)也有可能使底面荷电。 高岭石端面可与水介质间界面上形成双电层，其荷电被端面上破裂的Si-O和A1-O键所控制，即高岭石中SiO2、A12O3组成的表面行为受控与H+和OH-，当pH值低时端面荷正电；中性、弱酸性介质中端面不荷电；碱性介质中端面荷负电。 实际测得的高岭石零电点是水介质中表面电荷的总反映，可近似地出底面电荷和端面电荷的代数和确定。 架状结构硅酸盐矿物在纯水中表面电性小结 架状结构硅酸盐矿物荷电状态是铝氧四面体和硅氧四面体的综合反映。对长石来说，其解离面上的配衡阳离子K+、Na-、Ca2 +等易溶，给表面留下负电荷和活泼的SiOH、SiO-区域，另外长石解离表面多价金属阳离于对于阴离子的相对密度较低，其综合因素的总和导致零电点较低。 2 阳离子对硅酸盐矿物ζ电位的影响 矿浆中常常含有一些“难免”阳离