2011第一章节_X射线衍射分析.pptVIP

1.峰顶法 2.切线法 3.半高宽中点法 4.7/8高度法 5.中点连线法 6.抛物线拟合法 ①相对强度——峰高比（最强线为100） ②积分强度： A：面积——背底以上峰形以下——面积 　　　　　　　　　　　　　　　 质量 B：步进扫描法将待测衍射峰所在的角度范围内的 强度逐点记录下来，相加得到总计数，扣除背底，所得计数。 C：定标器法。 六、衍射线积分强度测量 重叠峰——Kα双峰重叠 多相试样中自由峰重叠 为正确测出峰位和积分强度，常需把重叠峰分离开来。 （1）Kα双峰分离（作图法） （2）Kα双峰分离（解析法） （3）自由峰分离 七、重叠峰的分离 衍射线位置(方向 2θ) 晶胞形状、大小——d 衍射线强度(相对强度) 晶胞内原子种类、数目、排列方式 晶体 特有晶体结构 特有衍射花样(曲线) 鉴定晶体 单相物质：将未知物相的衍射花样与已知物相的衍射花样相比较。 样品为几种物相的混合物：则其衍射图形为这几种晶体衍射线的机械叠加。 §1.7 X射线物相分析 定性相分析的基本原理： 一、定性相分析 1. 卡片 2. 索引 3. 定性相分析程序 4. 定性相分析的注意事项 1.定量相分析原理 多相混合物中，某相衍射线强度随该相含量增加而增加。 二、定量相分析 粉末衍射法的积分强度公式 上式是从单相物质导出的。 若是多相物质，则第j相物质 某条衍射线 的强度Ij： B —— 与实验条件有关的常数； Cj—— 与j相结构 及实验条件有关的常数 μ—— 混合物线吸收系数 vj—— j相体积百分数分数 ωj—— j相质量百分分数 2. 常用方法 直接对比法外标法内标法K值法 直接对比法——适用于待测样品晶体结构已知——Cj可求 设试样有n相，可列出下列方程组： ………… 解方程得： （1-99） （1-100） 对于两相系统时： §1.8 晶胞参数的测定 Outline: 1.结晶物质在一定条件下具有一定的晶胞参数abcαβγ 温度T、压力P、化学剂量比、固溶体的组分比、晶体中杂质含量变化等都会引起晶胞参数的变化。 2. 衍射线------→ 可知 θ 和 d ∵d是 晶胞参数、衍射指数（HKL） 的函数 ∴欲求晶胞参数←-- 必求每根衍射线的对应衍射指数(HKL) 称为“衍射线指标化”或“标定” 3. 一、粉晶衍射图的标定方法 QHKL——晶面（HKL）对应的倒易点阵矢量的模的平方值 理论上：n条衍射线可得n个上述方程，联立方程组，可求得各衍射线的衍射指数H、K、L以及与晶胞参数有关的常数A、B、C、D、E和F。 但是：方程右边全是未知数，求解困难。 因此只适用于中高级晶系（因为有特殊对称特点和系统消光规则，各参数间有关联 ） 1. 立方晶系的标定方法：P77 2. 六方和四方晶系的标定方法：P80 三方晶系可用变换基矢办法转化为六方晶系 二、系统误差的来源 相机镜头半径不准 底片伸缩 试样偏心 试样对X射线的吸收 德拜-谢乐法： 焦点位移误差 试样表面离轴误差 试样透明误差（因吸收而造成的） 平板型试样误差 X射线的垂直发散误差 衍射仪法： 三、校正误差的方法 §1.9 X射线衍射分析技术在测定晶粒大小方面的应用 一、测定依据 干涉函数︱G︱2的主峰角宽度反比于参加衍射的晶胞数 N： ?2θ反比于 D极小 --→ N极少 --→ ?2θ ↑，宽化 二、影响宽化的因素（内因 + 外因） ① 晶粒尺寸 D ② 不均匀应变等晶格缺陷 ③ 仪器本身宽化 不均匀应变使晶体内各处的点阵常数略有变化，衍射角2 θ也就会有微小差异。 外因——可测定并校正 三、谢乐公式 （Scherrer公式） Dhkl——垂直于(hkl)面方向的晶粒尺寸 λ —— x射线波长 θ —— Bragg角 β —— 宽化度（Rad） K—— 常数 ① 衍射峰（hkl）的半高宽 β1/2 ② 衍射峰（hkl）的积分宽度βi=积分面积Ii/峰高Im ① 当β= β1/2，K=0.89 ② 当β=βi ，K=1 四、使用Scherrer公式的注意事项 适用范围是D在1~100nm。 用标准试样校正仪器本身的宽化。 (过350目，不过500目筛的石英粉，经850°退火) 要对Kα双线进行分离，求得Kα1所产生的真实宽度，代入谢乐公式。 Dhkl与所测衍射线指数（hkl）有关，一般可选取同一方向的两个衍射面来测量计算，以作比较。 如（111）和（2