XPS应用领域由于XPS能谱中包含着样品有关表面电子结构的重要信息.PPT

XPS分析总结 物理基础：光电效应 （EK = h? ? EB） 仪器组成：真空室、X射线源、电子能量分析器 辅助附件：离子枪、电子中和枪 主要功能：成分分析、化学态分析 采谱方法：全谱、高分辨率谱 分析方法：定性分析、定量分析、深度剖析 XPS 表面分析 （＜10ｎｍ） 深度分析 定性分析 定量分析 元素成分分析 元素化学态分析 离子溅射深度分析 角分辨深度分析 化学成像 Thank You！ * * 第8章 在材料科学中的应用 在聚合物材料中的应用 在催化科学中的应用 在冶金学中的应用 在材料物理学中的应用 在腐蚀科学中的应用 8.0、XPS应用领域 由于XPS能谱中包含着样品有关表面电子结构的重要信息，用它可直接研究表面及体相的元素组成、电子组态和分子结构。 XPS可进行表面元素的定性和定量分析，元素组成的选区和微区分析，非均相样品中元素组成的表面分布分析和深度剖析，原子和分子的价带结构分析，在某些情况下还可对元素的化学状态、分子结构等进行研究。 XPS的表面灵敏特性，样品处理的简单性和广泛的适应性，非结构破坏性测试能力，以及可获得丰富的化学信息的能力，是一种用途广泛的现代分析实验技术和表面分析的有力工具。广泛应用于科学研究和工程技术的诸多领域中。 XPS可提供： 原子浓度0.1%的所有元素（除H, He外）的鉴别； 表面元素组成的半定量测定（误差±10