[理学]XRD实验课-研究生.ppt

粉末衍射及数据分析x-ray powder diffraction and data analysis 主要内容 Xrd实验过程简介 Xrd定性分析 Xrd定量分析 Xrd峰形分析 Xrd测定晶胞参数及其应用 Rietveld结构精修简介 参考书目 X射线衍射技术及设备；丘利，冶金工业出版社 晶体X射线衍射学基础；李树堂，冶金工业出版社 X射线衍射分析技术；晋勇，国防工业出版社 X光衍射技术基础；王英华，原子能出版社 近代X射线多晶体衍射——实验技术与数据分析；马礼敦，化学工业出版社 粉末衍射法测定晶体结构；梁敬魁，科学出版社 近代晶体学基础；张克从，科学出版社 第一章 实验过程 靶材的选择 制样 择优取向 试验参数的选择 Xpert MPD Pro型衍射仪 Bragg方程 X-ray的发生 X射线的产生及靶材选择 滤片选择： Z靶＜40 Z滤=Z靶-1 Z靶≥40 Z滤=Z靶-2 Cu靶以Ni为滤片 靶材选择：Z靶≦Z样+1 Cu靶忌Fe、Co等材料 靶材选择的其他因素 靶材在工作过程中，输入的电能90%以上转化为热量 所以靶材的散热性至关重要；功率大小、射线稳定性（焦斑漂移） 价格因素和使用寿命。 衍射仪的测量范围（2θ）小于（0°－180°） 根据Bragg方程2dsinθ = nλ知道： dmax=λ/2sinθmin dmin=λ/2sinθmax 当θmin=0.5°时 dmax=88?（Cu）； dmax=41?（Mo）； dmax=131?（Cr） 当θmax=80°时 dmin=0.78?（Cu）； dmin=0.36?（Mo）； dmin=0.11?（W） 一般无机材料选择Cu靶，金属材料选择Co、Mo靶 某Fe样品在Co、Cu靶下的衍射谱对比图 粉末制样 由Bragg方程知，只有与衍射矢量垂直的晶面的衍射信号才会被探测器接收。为了保证每个晶面都有发生衍射的机会，颗粒在空间内的分布须是随机的。颗粒越小，其分布越接近于随机。定性分析时一般为325目，定量分析、晶胞参数测定、峰形分析时理想粒度为3000目以下（1-5μm）。 择优取向：指多晶体中某些晶面沿某些特定的取向排列→织构。 晶体定向生长；外力作用（轧制）；晶癖（云母、黄-PbO2等） 择优取向在XRD时会使各晶面衍射峰的相对强度偏离标准卡片，影响定性和定量相分析，一般应避免。 玛瑙研钵，适量酒精（省力、保护研钵、防氧化、防颗粒蹦出）。 金属样品一般可用宝石锉制成粉末，然后经退火处理，消除应力和磁性。 经验：产生吸附现象或轻捻无颗粒感（约300目）。 一般不可过筛，因为筛上和筛下的相组成很可能不一样。 粗糙制样与精细制样的衍射图对比 一些特殊样品的制样方法（1） 悬浊液或乳浊液：用玻璃棒蘸取，滴在玻璃片上，自然风干或热风吹干，如样品量很少，可重复多次。 无刚性柔软薄片、纤维（铝箔、有机片带、碳纤维等）：先在玻璃片上粘导电胶，然后将样品平铺在导电胶上，然后用一个平面挤压几分钟。 超轻质样品（凝胶等）：用水或乙醇润湿；在玻璃片上涂胶水，将样品铺上，压平面。 块状样品：打磨出一个平面，若产生应力需退火；若块很小，可将数个粘在一起，然后打磨出一个平面。必要时需用稀酸溶液或电解方法除去表面加工层。 对于一些对粒度要求很高的测试，如果是单相的样品可以过筛、液体浸泡、静置取其悬浊液再蒸干等方式获取极细的样品。 一些特殊样品的制样方法（2） 很多有机物或大分子材料的样品不能研磨，否则会严重破坏其晶体结构，致无法判断。 包覆结构的材料，是否研磨应根据实验目的而定。 易择优取向样品： 研磨至更细的粒度（手工研磨很难达到30μm以下） 与玻璃粉、糊精、淀粉等非晶物共磨 采用特殊的装样法，如： 自由落体装样法； 滚动装样法； 侧装样法； 粘贴法等。 测微含量相的制样方法 XRD并不适宜对微量相进行检测 取样不合理，微量相未取到 很多微量添加物并非晶态 微量相衍射峰可能被主相掩盖 微量相的衍射峰小、少，若无其他证据，仅XRD难于判断。 分析微量相前必须对试样进行分离 根据颜色、粒度、硬度、密度、溶解性、熔点、挥发点、氧化还原性等分离，尽量提高待测相在试样中的浓度。 方法有分检、溶解、萃取、沉降、离心、灼烧等。 建议先做元素分析，如荧光可检出含量为ppm级的元素。 第二章 定性分析 样品制备：粉末325目；最少10mg 测试条件：扫描范围10°－90°； 步长 0.03°；速度 10°～20°/min。 在*.CSV文件中有记录。 数据处理： Strip Ka2 Search peaks （