主要分析仪器的用途与应用实例-东华大学分析测试中心.PDFVIP

主要分析仪器的用途 与应用实例 东华大学分析测试中心 中心简介 东华大学分析测试中心成立于 1981 年，重建于 2004 年，是直属学校领导的 业务部门，也是学校 “211 工程”建设的校级分析测试公共平台，目前已成为 学校进行人才培养、科学研究和社会服务的重要基地。中心现有各类大型精密分 析仪器 24 台（套），价值约 4000 万元，可开展有机物组成及分子结构分析，无 机物成分分析，聚集态结构分析，微区形貌与成分分析，纳米粒子形状及尺寸分 析，流变性能测试，未知物结构与成分剖析等分析测试服务工作。中心现有分析 测试专业技术人员 19 人，其中具有高级职称的有 8 人，具有博士学位的有 5 人。 他们除完成日常的分析测试服务工作外，还积极培训博士研究生能独立地使用中 心的仪器开展科研工作，承担学校和有关学院安排的教学任务，开办分析测试系 列学术讲座，承担与分析测试有关的各类科研项目，发表相关学术论文和著作， 努力提高分析测试技术水平。 本中心 2008 年元月通过了国家级实验室资质认定（国家计量认证）首次评 审，2010 年通过了复查评审，具备了向社会提供公证数据的资质和能力。目前 中心的日常管理和分析测试服务工作按评审通过的质量管理体系文件运行，确保 提供公正、科学、可靠、准确的分析测试结果。 本中心坚持把为学校人才培养和科学研究做好分析测试服务放在一切工作 首位，始终贯彻“为培养人才开展分析测试工作”的理念，为我校培养高素质创 新人才、完成各类科研项目、发表高水平学术论文和获准国家发明专利发挥了积 极的促进作用。在保证完成校内分析测试任务的前提下，中心加入了“上海研发 公共服务平台”和“上海纳米材料检测专业服务平台”，积极开展社会服务工作， 为其他高校、科研院所和企事业单位提供分析测试服务，受到了上海市科委的表 彰，新闻媒体也做了相关报道。 高分辨透射电子显微镜 （HRTEM ） （型号：JEM-2100F，厂商：日本JEOL ） HRTEM 配有场发射电子枪，电子束强度高、相干性好，可得到高分辨率的明场像、暗 场像、扫描透射像和选区电子衍射花样，尤其适合分析物质内部精细微观结构、晶体结构和 纳米材料形态结构，还可结合能量色散 X 射线能谱仪分析样品微区成分。 一、利用高分辨质厚衬度像，观察和分析 物质内部的精细微观结构。右图为具有 “蛋黄－壳（yolk-shell ）”结构的二氧化 硅微球的 HRTEM 照片。 二、利用高分辨质厚衬度像，分析纳米材料的 形态结构。右图为金纳米棒的 HRTEM 照片， 通过相关软件可得到金纳米棒的平均长径比。 三、利用高分辨衍射衬度像对样品进行物相分析，确定晶体结构。左下图为金粒子的高 分辨质厚衬度 HRTEM 像和选区电子衍射花样。右下图为金的高分辨 HRTEM 图像，可用 于观察晶体中存在的结构缺陷，确定缺陷的种类、估算缺陷密度。 四、通过 STEM 像和 X 射 线能谱对样品表面微区化 学成分进行分析。右图为 具有双面（Janus ）结构的 Ag@AgS 粒子的线 扫描 (a)和面扫描(b)结果。 场发射扫描电子显微镜（FESEM） （仪器型号：S-4800，厂商：日本HITACHI） FESEM 是用电子束在样品表面作光栅状扫描，收集入射电子与物质相互作 用产生的信息进行成像和分析的大型电子光学仪器。由于配备了亮度高、束斑小、 寿命长的冷场发射电子枪，可用来观察各种样品表面微观形貌，具有分辨率高、 样品损伤较小等特点。 一、块状固体、纤维、薄膜等样品的表面或断面微观形貌观察 硒化铜薄膜表面