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使用Agilent Cary 7000 全能型分光光度计 (UMS) 更快速、更准确地分析立体分光镜 应用简报 材料 作者 Travis Burt ，Chris Colley ， Hakchu Lee* 安捷伦科技公司 澳大利亚维多利亚州马尔格雷夫 *安捷伦科技公司 美国加利福尼亚州圣克拉拉 摘要 立体分光镜 (CBS) 是一类极为重要的光学元件，其广泛应用于消费品、高科技微 定位设备和基于光纤的电信系统中。本应用简报介绍了使用Agilent Cary 7000 全能型分光光度计 (UMS) 对 CBS 进行现场、自动化和无人值守的透射率、反射 率和吸光度测量。获得的光谱信息可在产品设计阶段给光学工程师提供有益的思 路，并使 QA/QC 部门在最终测试中可以使用更好的控制指标；以上皆可在高分 析效率下完成，并可满足常规分析工作量的需求。 前言 Cary 7000 UMS 可进行同一系统的透射光和反射光的光谱 表征，不需要移动样品，因此入射光也保持不变。对样品 顾名思义，CBS 的作用是将一束光线分为两个不同的传播 上相同位置的透射率 (T) 和反射率 (R) 的现场测量结果，可 路径，即反射光和透射光 （图 1），通常其尺寸比骰子略小 用于计算出精确的吸光度 (A = 1–T– R) 数据，从而深入了 （ ” ，12.7–25.4 mm）。 解基底和镀膜性能。 0.5– 1 分开的光线可用于复制图像、分离颜色或偏振状态，或在 分析光谱中的全损失时，研究人员此前已发现可导致数据质 激光应用中充当紧凑型干涉仪，用于纳米微定位系统。在 量问题的人为因素。已见诸报导 的人为因素包括： [1] 任何条件下，要在 CBS 的设计、实施和质量控制方面取得 • 测量 和 时的入射角度 变化 成功，需要充分了解透射光和折射光的光谱信息。在中间 T R (AOI) 斜边上，有时也会在外表面上沉积介质 （光学）镀膜，以确 • 镀膜厚度轻微不均匀 定 CBS 的波长以及偏振特征。此项测量的一个难点在于内 部多层镀膜的光学性能会受当前的光电机械环境所影响，比 • 镀膜的吸光和干涉效应的联合作用 如用于粘结两片棱镜的粘结剂的折射率。作为开放式表征 本应用简报中展示了使用 Cary 7000 UMS 收集数据。不移 方法，在粘结两片棱镜之前，需要对介质镀膜进行现场测量， 动样品而测量 和 ，即排除了 变化以及镀膜厚度不 T R AOI 得到与组装后的完整立方体不同的结果。 均匀的影响。 分光镜镀膜 分光镜类型 AR 镀膜 可根据立体分光镜最终用途的光学需求进行粗略的分类。