仪器分析——GCMS.ppt

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仪器分析——GCMS

GCMS是什么 ? GC组成 目的 :分离样品组分 GC进样口 分流/不分流进样口(SPL) 填充柱进样口(WBI) 冷柱头进样口(OCI) 程序升温进样口(PTV) 分流/不分流进样口结构 分流进样 什么是分流进样? 分流比  分流流量和色谱柱流量之比   当柱流量为 1mL/min、分流流量为 46mL/min   --分流比=46:1   为什么要分流进样? 防止色谱柱过载 避免分流歧视,提高重现性    不分流进样 什么是不分流进样? 什么是不分流进样? 分流流路1min后打开电磁阀的作用 进样后1分钟内色谱峰展宽的影响 如何减小色谱峰展宽: 1)溶剂效应 2)高压进样 溶剂效应 不分流进样小结 ?主要用于分析微量组分(数十 ppm 或更低) ?使用不分流进样衬管或去活性不分流进样衬管 ?衬管中可装填少量石英棉以提高重现性。 如样品有强吸附性,最好不加石英棉。 ?必须使用程序升温方式,初始温度低于溶剂沸点10~20度 ?可以使用高压进样方式 ?不适合气体样品和低沸点溶剂类样品的分析 ?不适合分析在溶剂峰之前出峰的组分 Interface(接口) Interface:GC to MS的连接部件 MS组成 真空- 另一重要因素- 真空系统确保离子由离子源转移至检测器 排气系统 压力 10-3-10-4 Pa(平均自由路径 5m-50m) 真空泵 (主泵) 单泵排气系统和差动排气系统 差动排气系统更有利于高流量分析 什么是离子? 离子:带电的原子或分子 Ionization(离子化) 样品分子在离子源中离子化 根据样品条件不同 (如气体或液体),离子化方法也不同 对气体样品来说有三种离子化方法 EI (Electron Impact,电子轰击电离) CI (Chemical Ionization,正化学电离PCI) NCI (Negative Chemical Ionization,负化学电离) 碎片和质谱图 分子受到电子(70eV)轰击,在较低能量的化学键处发生断裂 EI 谱图示例 需要反应气(Reagent gas ) 关闭式离子源 ( 离子源内压力约 10Pa ) 碎片少 ( 软电离) 产生准分子离子( pseudo-molecular ions,M+1) 有利于测定分子量 EI和CI谱图比较 Methylstearate(硬酯酸甲酯) M.W. 298 NCI (负化学电离) 需要反应气(Reagent gas ) 关闭式离子源 ( 离子源内压力约 1Pa ) 碎片少 ( 软电离) 带电负性基团的化合物有高灵敏度 (如卤素化合物) 数据采集模式 图谱认识 TIC: Total Ion Chromatogram 总离子流图 MS: Mass Spectrum 质谱图 MC: Mass Chromatogram 质量色谱图 MIC:Mixed Ion Chromatogram 加和离子流图 (指定质量数范围内的“总”离子流图) 数据采集模式 分析方法的建立 分析方法 仪器参数 GC参数: 色谱柱、流量、温度等 MS参数: 温度、检测器电压、扫描范围等 数据处理参数 积分参数:峰宽、斜率等 定性参数:相似性检索谱库等 定量参数:计算方法、校正级别、组分表等 积分参数 积分参数 峰宽:WIDTH 斜率:SLOPE 漂移:DRIFT 变参时间:T.DBL 积分参数 去除高频噪声(电磁干扰)WH/2WIDTH/4 控制数据采集速度(对GC而言),WIDTH/10采一次数据 积分参数 判断峰起点和结束点 滤除低平噪声(如蛇行等) 定量参数 校正级别(曲线计算方法) 单点校正(liner) 多点校正(两点和两点以上) 线性回归 点到点连线(折线) 二次曲线 三次曲线 单点校正 对每一组分仅做一个浓度的标样 标样浓度应尽可能接近实际样品中各组分的浓度 单点校正曲线通过原点 多点校正 对每一组分至少作两个不同浓度水平的校正 标样浓度范围应包含实际样品中各组分的浓度 多级校正有几种方式 1.响应值随浓度变化不呈线性变化时,使用多线性校正(折线校正)或二次曲线、三次曲线 2.组分响应值随浓度变化呈线性变化时,使用最小二乘法,进行线性回归校正 计算方法 面积百分率法 校正面积百分率法 外标法 内标法 计算方法(一) 面积百分率法(面积归一) 各组分浓度以面积百分率表示,该结果可以确认大概的浓度,但有误差。 校正面积百分率法(校正面积归一) 用重量响应因子对峰面积进行修正,用该法测定的浓

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