09原子吸收光谱法.pptVIP

易电离元素在火焰中产生电离，使基态原子数减少，吸光度下降的现象。 §9—3 原子吸收的干扰及其抑制 一、电离干扰及其抑制： 1．定义： ●火焰温度越高，干扰越严重； ●ⅠA、ⅡA主族金属的电离能低于6eV， 电离干扰尤为显著。 2．消除： 加入消电离剂，可以抑制电离干扰。 消电离剂：在火焰中能提供大量电子而又不会在吸收波长产生吸收的易电离元素。 常用的消电离剂：CsCl、KCl、NaCl等。 浓度：一般为1%左右。 二、物理干扰及其抑制： 1．物理干扰： 试液的物理性质和其他因素引起雾化、溶剂蒸发等过程的变化而产生的干扰。 2．消除： ① 配制与待测试样溶液相似的标准溶 液，或采用标准加入法； ② 使用多道原子吸收仪时，采用内标法； ③ 加入基体改进剂。 如：粘度 气压 毛细管 基体 三、化学干扰及其抑制： 1．化学干扰： 待测元素同试样中的共存元素或火焰成分发生化学反应，影响元素的原子化所引起的干扰。 ●化学干扰具有选择性； ●影响程度取决于待测元素与 共存元素的性质，且与火焰 类型、状态、部分等有关。 2．消除： ① 适当提高火焰温度，使难挥发、难离解 的化合物离解成基态原子； ② 加入释放剂与干扰元素生成更稳定的化 合物，从而使待测元素的原子从干扰元 素的化合物中释放出来； ③ 加入保护剂与待测元素形成络合物，阻 止其与干扰元素结合； ④ 加入基体改进剂； ⑤ 化学分离与富集。 四、光谱干扰及其抑制： 1．吸收线重叠干扰： ●光谱通带内有一条以上的吸收线或 邻近线，称为吸收线重叠干扰。 ●可用减小狭缝宽度，降低灯电流或 选择其它分析线的方法消除。 ●背景干扰主要指分子吸收、光散射 及火焰气体吸收等。 2．背景干扰： ●在实际工作中，采用升高火焰温度 使分子离解或调零扣除背景。 ●在仪器上常采用氘灯或塞曼效应校 正背景。 §9—4 分析方法 分别配制一列标液和试液，在相同条件下测定它们的吸光度，以吸光度A对浓度C作工作曲线，用内插法定量。 一、标准曲线法： 二 标准加入法： 1．原理： 设Cx——试液浓度 Co——标液浓度 Ax——试液吸光度 Ao——混合液吸光度 由比尔定律，有： Ax＝KCx Ao＝K（Cx＋Co） 2．在实际操作： 常用作图法。即取若 干份同体积试液，从 第二份开始分别加入 不同量标液，然后定 容测定吸光度，以吸 光度对加入量作图， 其曲线外延与浓度轴 相交点浓度的绝对 值，即为试液浓度。 §9—1 基本原理 一、定义： ●又称为原子吸收分光光度法，简称为AAS。 它是基于物质的基态原子蒸气对同种原子 辐射的特征光谱能量的吸收作用来进行定 量分析的方法。 二、原子吸收线的宽度： 一 吸收线的宽度： 基态原子吸收同种原子的特征光谱的能量被激发至最低激发态，形成的吸收线。 ★ 共振吸收线： ★ 原子理论上应产生线状光谱吸收线，实际 上用特征吸收频率左右范围的辐射光照射 时，获得一峰形吸收（具有一定宽度）。 即原子线具有一定的形状，占据一定的波 长或频率范围，即谱线有一定轮廓。 谱线强度或吸收系数按频率或波长变化的关系曲线，亦称吸收曲线。 ★ 吸收线的轮廓： γ0——为吸收线的中心频率； K0——中心频率对应的吸收 系数，称峰值吸收系数； ΔγorΔλ——峰值吸收值 一半处的频率宽度，简称 吸收线宽度。 二 吸收线变宽的原因： 1．自然宽度ΔγN或ΔλN： 在无外界条件影响时，谱线的固有宽度，称为自然宽度。 ◆定义： 自然宽度与激发态原子的平均寿命有关，平均寿命愈长，谱线宽度愈窄。可用测不准原理解释。 ◆产生原因： ◆大小： 约为10-5nm。 ◆由于ΔγN或ΔλN比其它原因引起的谱线变 宽小得多，故在实际测定中可忽略不计。 2．多普勒（Doppler）变宽ΔγD或ΔλD： 由辐射原子无规则热运动引起的 变宽，又称为热变宽。 ◆定义： ◆产生原因： 由于原子向或反向向观察者运动，造成γ不同。 为10-4～10-3nm，是谱线变宽的 主要原因。 ◆大小： 一个运动着的原子所发射出的光，若运动方向朝向观察者(检测器)，则观测到光的频率较静止原子所发出光的频率来得高(波长来得短)；反之，若运动方向背向观察者，则观测到光的频率较静止原子所发出光的频率来得低(波长来得长)。由于原子的热运动是无规则的，但在朝向、背向检测器的方向上总有一定的分量，所以检测器受到光的频率(波长)总会有一定的范围，即谱线产生变宽。 3．压力变宽： ◆定义： 由于粒子间的相互碰撞而产生的变宽，又称碰撞变宽。 ◎赫尔兹马克变宽ΔγH： 由辐射原子之间的碰撞