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为什么要对测量系统进行分析? 测量数据的质量： 数据的质量取决于多次测量的统计特征：偏倚及变差。 高质量数据——对某一特定特性值进行多次测量的数值均 与该特性的参考值“接近”。 低质量数据——测量数据均与该特性的参考值相差“很远”。 理想的测量系统——零偏倚、零变差。 理想的测量系统不存在，为什么? 由于测量系统变差源：标准、人员（评价人、）仪器 （量具）、工作件（零件）、程序（方法）、环境的作用结果，使得观测到的过程变差值与实际的过程变差值不相等。 偏倚：观测到的测量值的平均值与参考值之间的差值。 稳定性：别名：漂移。 是测量系统在某个持续时间内，测量同一基准或零件 的单一特性时获得的测量总变差。换句话说。随时间变 化的偏倚值 偏倚3 偏倚2 偏倚1 时间 参考值 线性： （位置变差） ：就是量具在预期工作的（测量）范围内偏倚值的差值被称为线性。 在量具正常工作量程内的偏倚变化量。 偏倚2 偏倚1 值N 值1 重复性（宽度变差）：E、V 一个评价人、同一种仪器、同一零件的某一特性，在固定的和已定义的测量条件下，连续（短期内）多次测量中的变差。 我们可以把重复性看作设备变差:它是设备本身固有的变差或性能——仪器的变差，是从规定的测量条件下连续试验得到的普通原因变差。 重复性 过程F