晶体硅组件认证测试失败机理探讨与分析教学幻灯片讲义.pptVIP

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  • 2018-02-27 发布于天津
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晶体硅组件认证测试失败机理探讨与分析教学幻灯片讲义.ppt

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* IEC61215及IEC61730测试失败机理探讨与分析 首先,出现以上的部分情况并非一定会失败。在这里,轻微的脱层以及气泡是允许的,主要评判还是IEC61215的严重外观缺陷以及湿绝缘测试情况。 其次,之所以把这三项测试放在一起探讨,主要因为其发生的一切均与EVA有或多或少的联系,注意事项如出一辙。 * IEC61215及IEC61730测试失败机理探讨与分析 建议注意以下方面: 1.产品设计要严格执行IEC61730-1标准的基础上适当加严,一味的缩小版型降低成本会大大提升产品的风险成本,另外还会降低一次成型率,得不偿失; 2.原材料的选用非常重要,尤其是EVA(耐水解能力、交联后的伸缩率); 3.EVA交联度我们建议偏高一些,比方说85%左右; 4.EVA交联度的均匀度要尽可能好,测定时的选样位置特别重要; 5.硅胶应选择耐水解能力强,拉伸率偏高的厂家; 6.接线盒的密封性能至关重要,而对于厂家回料使用的比率应该特别关注; * IEC61215及IEC61730测试失败机理探讨与分析 ROBUSTNESS OF TERMINATIONS/引线端强度测试 1.接线盒的选择需要注意,尤其注意线缆与盒体连接处的扭矩,但如果扭矩过大则会造成线缆外皮破损,导致脉冲电压测试失败。 2.硅胶的耐候性能尤其耐水解能力显得格外重要。 WET

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