ICP-AES(美国热电teva操作软件说明书).doc

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ICP-AES(美国热电teva操作软件说明书)

第二部分 IRIS Intrepid等离子体光谱仪操作指南 序 言 IRIS Intrepid系列光谱仪是电感耦合氩等离子体发射光谱仪(ICAP-AES)。它采用中阶梯光栅和石英棱镜二维分光系统与CID固体检测器完美结合,提供完整的和全波长复盖的分析谱图。 典型的发射光谱仪(AES)能够分析从几个ppb到百分之几乃至百分之几十的样品浓度。IRIS Intrepid系列光谱仪根据观测方式不同分为: .垂直观测 一般用于分析基体较复杂的样品,干扰较小。 .水平观测 能够改善仪器的检出限,一般用于分析基体简单的样品,对于基体复杂的样品干扰较大。 .双向观测 以水平观测为基础,利用辅助光学系统进行垂直观测,可弥补水平观测的易电离干扰,拓宽分析线性范围。 仪器操作规程 仪器的准备: 开机 确认有足够的氩气用于连续工作。(储量≥1瓶) 确认废液收集桶有足够的空间用于收集废液。 打开氩气并调节分压在0.5—0.7Mpa之间。 若仪器处于停机状态,打开主机电源(右侧下方红色刀闸),注意仪器自检动作。待自检结束后,即可关闭氩气,用以节省氩气消耗,等待仪器预热。 启动TEVA软件,检查联机通讯情况。 点火 再次确认氩气储量和压力,并驱气1小时,确保CID检测器不会结霜。 检查并确认进样系统(矩管、雾化室、雾化器、泵管等)是否正确安装。 上好蠕动泵夹,把样品管放入蒸馏水中。 开启排风。 打开TEVA软件的plasma status对话框,进行点火操作。 3、稳定 光室稳定在90±0.5F。 CID温度-40℃。 等离子体稳定15-30分钟。 分析 分析完毕后,用蒸馏水冲洗进样系统10分钟,熄火。 点击Shutdown使仪器处于待机状态。 松开蠕动泵泵夹。 待CID温度升至20℃以上,再吹扫10分钟左右即可关闭氩气。 关闭排风。 停机 若仪器长期停用,关闭主机电源和气源使仪器处于停机状态。建议用户定期开机,以免仪器因长期放置而损坏。 注:此时仪器CID制冷开关应置于SWITCH ON。若仪器置于ALWAYS ON状态时,必须要先通氩气1小时,才可以打开主机电源,以避免CID检测器结霜。 第二章 定性分析 CID检测器具有记录样品元素“指纹”信息的独特功能。本章利用测试溶液来说明进行定性分析的方法。 单击分析模块中的Run Full Frame图标 ,打开如下对话框: 获取全谱谱图: 我们可以获得一个或二个波长范围的全帧谱图,Uv表示低波范围,Vis表示高波范围,切换波长为238nm。吸入测试溶液,选择Uv或Vis,设定积分时间,单击Run,光谱仪就会得到下图所示的谱图。 元素识别: 在谱图上选择亮点,用鼠标双击它,将谱图放大,将光标会置于最亮的单元上,点击 图标,就会显示元素谱线表,根据您对样品的了解及相应的强度,可初步确定是何种元素。为进一步确认,可通过以下方法来实现。 双击谱图右侧Analytical Elementals或点击它前面的+,打开元素下拉式菜单并选择所需的元素,右击鼠标选择Add Elemental to Method,此时,该元素的其它谱线将被添加到相应的谱图中。双击每一条谱线,可依次对其进行研究,若每一条谱线中都出现谱峰,则在样品中很有可能存在那种元素。如有必要,可通过单击工具条中的 图标,来核对低灵敏度的谱线。右击鼠标选择Restore Zoom可使谱图复原,右击鼠标选择Restore Contrast可使对比度复原。 通过以上方法,可对未知样品进行定性分析。 存贮谱图: 即可在拍摄全谱谱图时选择Autostore,进行保存。也可在谱图左侧的样品分析栏选择要保存谱图,右击鼠标选择Save Full Frame…,键入名称,点击OK存贮谱图。 谱图相减: 若您对沾污的样品进行分析,此方法非常有用。通过谱图相减,就可使原谱图简化,得到第三幅谱图,这幅谱图表示前两者的差异。 其方法为,在样品分析栏中选择您要被减的谱图,右击鼠标选择Subtract Full Frame…,会弹出如下对话框,选择您所要减的谱图,点击OK,即可得到第三幅谱图。 第三章 谱线添加及其校准 在光谱仪出厂之前,技术人员以及TJA服务专家已在光谱仪中对许多谱线进行了校准,由于运输过程产生振动,可能造成谱线漂移,所以建议您在使用之前,需要对所有有用的谱线重新进行校准,为以后分析创造方便条件。 在谱图中相同的谱线拥有不同的级次,因此,不仅要确定谱线的波长,还要确定谱线的级次。波长以(nm)计量,级次在波长之后的( )中。 IRIS光谱仪装有两个狭缝,Uv用于较短的波长,Vis用于较长的波长。通常在分析时,尽量采用Uv上的谱线进行测

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