现代微观分析隧道20075.ppt

* 扫描隧道显微镜scanning tunneling microscope，STM 扫描隧道显微镜原理 引自http://www.iap.tuwien.ac.at 金属表面的电子云与探针的电子云图 原理图 扫描隧道显微镜（STM） 能观测物质表面单个原子立体形貌及原子的排列. 1982年宾尼格和罗雷尔成功研制出第一台扫描隧道显微镜 一、STM的背景知识 自从1933年德国Ruska和Knoll等人在柏林制成第一台电子显微镜后，几十年来，有许多用于表面结构分析的现代仪器先后问世。如透射电子显微镜(TEM)、扫描电子显微镜(SEM)、场离子显微镜(TEM)等。但任何一种技术在应用中都会存在这样或那样的局限性。 1982年，国际商业机器公司苏黎世实验室的葛·宾尼(Gerd Binnig)博士和海·罗雷尔(Heinrich Rohrer)博士及其同事们共同研制成功了世界第一台新型的表面分析仪器——扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscope，简称STM)。 1、STM的产生背景 使人类第一次能够实时地观察单个原子在物质表面的排列状态和与表面电子行为有关的物理、化学性质。 在表面科学、材料科学、生命科学等领域的研究中有着重大的意义和广阔的前景，被国际科学界公认为八十年代世界十大科技成就之一。 2、STM的出现的意义 欧内斯特·纳斯卡(Ernst Ruska)，葛·宾尼(Gerd Binnig) 和海·罗雷尔(Heinrich Rohrer) （从左至右）,分别因为发明电子显微镜和扫描隧道显微镜而分享1986年的诺贝尔物理学奖　　 STM全名为Scanning Tunneling Microscopy，是在金属探针及导电样品间加上小电压，并将两者距离维持在数埃至数十埃间，使探针尖端原子团与样品表面的量子穿隧电流保持定值，而测得表面结构形状，具有原子分辨率。 在SPM技术中具有最佳分辨率，但由于无法在非导体上操作，故目前主要应用于基础性学术研究。 二、扫描隧道显微镜原理(scanning tunneling microscope，STM) 原理：根据隧道效应设计，当原子尺度的针尖在不到一个纳米的高度上扫描样品时，此处电子云重叠，外加一电压（2mV~2V），针尖与样品之间形成隧道电流。电流强度与针尖和样品间的距离有函数关系，将扫描过程中电流的变化转换为图像，即可显示出原子水平的凹凸形态。 分辨率：横向为0.1~0.2nm，纵向可达0.01nm。 扫描隧道显微镜（STM）的基本原理是利用量子理论中的隧道效应。 将原子线度的极细探针和被研究物质的表面作为两个电极，当样品与针尖的距离非常接近时（通常小于1nm)，在外加电场的作用下，电子会穿过两个电极之间的势垒流向另一电极。这种现象即是隧道效应。 隧道电流 I 是电子波函数重叠的量度，与针尖和样品之间距离 S 和平均功函数 Φ 有关： Vb 是加在针尖和样品之间的偏置电压，平均功函数 , 分别为针尖和样品的功函数，A 为常数，在真空条件下约 等于1。 扫描探针一般采用直径小于1mm的细金属丝，如钨丝、铂―铱丝等；被观测样品应具有一定导电性才可以产生隧道电流: 由上式可知，隧道电流强度对针尖与样品表面之间距非常敏感，如果距离 S 减小0.1nm，隧道电流 I 将增加一个数量级。 根据扫描过程中针尖与样品间相对运动的不同，可将STM的工作原理分之为恒电流模式[图1（a）]和恒高度模式[图1(b)]。 图1? 扫描模式示意图 （a）恒电流模式；（b）恒高度模式 S 为针尖与样品间距，I、Vb 为隧道电流和偏置电压，Vz为控制针尖在 z 方向高度的反馈电压。 （1）恒电流模式[图1（a）] 若控制样品与针尖间的距离不变，如图1（a），则当针尖在样品表面扫描时，由于样品表面高低起伏，势必引起隧道电流变化，此时通过一定的电子反馈系统，驱动针尖随样品高低变化而做升降运动，以确保针尖与样品间的距离保持不变，此时针尖在样品表面扫描时的运动轨迹[如图1（a）中虚线所示]，直接反应了样品表面态密度的分布，而在一定条件下，样品的表面态密度与样品表面的高低起伏程度有关，此即恒电流模式。 将针尖在样品表面扫描时运动的轨迹直接在荧光屏或记录纸上显示出来，就得到了样品表面态密度的分布或原子排列的图象。这种扫描方式可用于观察表面形貌起伏较大的样品，且可通过加在 z 方向驱动器上的电压值,推