X射线荧光岩屑录井仪器.pdfVIP

第 卷 第 期 录井工程 · · ２０ １ 　 　　　　　　　　　　　　　　　　 ４７ 　　　　　　　　　　　　 ·装 备 · 　　 Ｘ射线荧光岩屑录井仪器 ① ① ① ② 朱根庆 许绍俊 杨 锐 孙汝昆 　 　 　 　 （ 重庆奥能瑞科石油技术有限责任公司； 南开大学） ① ② 朱根庆，许绍俊，杨锐，孙汝昆 射线荧光岩屑录井仪器 录井工程， ， （ ）： ， ．Ｘ ． ２００９２０ １ ４７ ５０ ６０ ～ 摘 由光谱分析的一般检测原理入手，介绍 射线荧光岩屑分析仪器的基本原理及仪器构成。分析了波长色 Ｘ 　 　 散型和能量色散型两类仪器的优缺点，简介了 ＸＲＦ仪器结构、特点、技术指标、检测电路和采集软件功能。针对 分析仪器的特殊结构阐述了 射线荧光岩屑分析的实践依据。通过室内测试和现 口井的验证应用，证 ＸＲＦ Ｘ ４５ 实该仪器的检测精度、重复性和稳定性等均达到了设计指标要求，为岩屑录井提供了全新手段，丰富了录井资料， 为地层的解释评价创造了有利条件。 关键词 射线 射线荧光（ ） 录井仪器 荧光激发源 能量色散 探测器 多道脉冲分析器 Ｘ Ｘ ＸＲＦ Ｘ Ｓｉｉｎ 　 　 　 　 　 　 ｐ 　 光及散射光谱的测量，均需要外来的光源。吸收光 ０ 引 言 　 　 谱时，来自光源的光束通过样品，直接到达波长选择 射线荧光光谱分析技术近十余年来发展很 器。图 中光源产生的辐射激发试样，测量由样品 Ｘ ２ 快，除波长色散、能量色散 射线荧光分析外，全反 发出的次生荧光、磷光或散射的辐射能，因此光源与 Ｘ 射、同步辐射、微束 射线、质子激发 射线荧光光 样品的相互位置有一定的角度（一般为 ）。 Ｘ Ｘ ９０° 谱分析等技术和仪器相继出现，激发能量更高（第三 代同步辐射源高达 ）、波长范围更宽，能进 ３．５ＧｅＶ 行痕量元素的分析，因而能够从物质微观结构上进 图 吸收光谱分析法框图 １