基于NS技术的大面积GEM探测器研究进展周意-Indico.PPT

* 基于NS2技术的 大面积GEM探测器研究进展 周 意 “核探测与核电子学” 国家重点实验室 中国科学技术大学 近代物理系 2013年 5月3日 Outline 制作大面积GEM探测器的意义以及技术难点； 大面积GEM探测器制作方法的对比与分析； 中国科学技术大学大面积GEM探测器制作进展； GEM探测器的特点以及应用局限 GEM探测器的性能: 计数率能力：100kHz/mm2； 有效增益(三层GEM)：~5×104； 位置分辨：100μm； 时间分辨：~10ns； 探测效率：95%； GEM探测器的应用前景： 1.高计数率环境下的粒子径 迹测量与触发 2.应用于时间投影室中进行 二维位置测量 3.光子测量 4.X-射线医学成像 5. ?????? 限制GEM探测器大规模应用的最重要因素： —探测器的有效面积 大面积GEM探测器的应用1 径迹探测：Jlab SBS 实验组 John R.M. Annand Tracking with GEM Detectors at High Luminosities, The SBS Programme in Hall-A of Jefferson Lab 大面积GEM探测器的应用2 Reduced RPC endcap system |η| 1.6 GEM upgrade project 触发系统： CMS high-η(|η|1.6) Mu子触发系统 Stefano Colafranceschi RD51 mini week, 14 June 2012 大面积GEM制作方法1: 粘胶法 Stretching Gluing the next frame with spacers Francesco Noto Jlab12-Group GEM, Mechanical Tracker Jlab-SBS 粘胶法的缺点 由于环氧树脂胶需要较长的凝固时间，因此制作一个探测器所需的时间非常长； 由于粘胶过程属于不可逆过程，因此探测器的制作过程没有任何的容错性，给安装人员造成相当大的精神压力； 探测器制作成型后，完全成为一个不可分割的总体，如果在使用过程中内部某处损坏，探测器无法被修复，只能报废； 由于支撑支架的使用，造成探测器的有效面积内存在很多死区； 环氧树脂胶是否会因为长时间受到辐照而老化，导致GEM薄膜产生形变？ 粘胶法的潜在问题(Creep效应) 3D Machine Marco Poli Lener, Ph.D Thesis 大面积GEM制作方法2: 自张紧方法 Readout PCB Readout PCB GEMs GEMs Drift Drift NS1 is relaying on the elastic properties of the periphery frame The screw is pushing the frame before the stretching. The screw is pulling out the console Detector Base Detector Base NS1 NS2 L. Franconi, A. Marinov, R. De Oliveira Status of no-stretch no-spacer GEM assembly 相对于粘胶法，NS2改进的地方 由于NS2技术安装探测器的整个过程几乎都是在驱动螺丝，因此安装过程非常快速； 由于螺丝可随时拆卸，因此整个安装过程的容错性非常大，工作人员可以轻松愉快的完成整个探测器的安装； 由于螺丝可以拆卸并重装，因此探测器的任何部件如果在使用过程损坏，都可以轻松替换，大大节约了成本； 由于NS2技术不在探测器有效面积内部放置任何支架，因此探测器有效面积内没有死区； 探测器内部不存在胶的老化问题； A (30x30)cm2 GEM foil before stretching. The same foil after the stretching, already inserted in the detector’s frame. L. Franconi, A. Marinov, R. De Oliveira Status of no-stretch no-spacer GEM assembly 大面积GEM制作方法：NS2自张紧方法 用NS2技术制作的大面积GEM探测器 高压耐压测试盒(For Quality Control) NS2大面积GEM的三维模型 30cm×30cm GEM探测器的三维模型 NS2大面积GEM的安装 气密性测试 不再