仪器名称 成都理工大学材料与化学化工学院.doc

材料与化学化工学院开放仪器设备委托测试须知 仪器名称 管理人/电话 技术参数 送样要求 测试周期 接样时间 X射线衍射仪 邓χ射线发生器：标定功率：4kW, 管电压：10—60kV, 稳定度：≤0.01%. X射线防护散射线计量：≤1μSv/h(X射线防护罩外),　　 测角仪：样品水平θ—θ, 衍射圆半径：185mm, 角度测量范围：3—80? 扫描速度：0.0012°—70°/min连续设定 扫描方式：连续或步进扫描方式，θs—θd联动或θs、θd单动方式 θs、θd角最快转动速度：1500?/min 最小步进角度：1/10000? 探测器：正比(PC)或闪烁(SC) 最大线性记数率：5×105CPS(带有漏计数补偿功能) 能量分辨率：≤25%(PC)、≤50%(SC) 计数方式：微分或是积分方式、自动PHA、死时间校正 ① 粉末样品一般要求粒度在50微米左右； ② 固体样品要求待测面平整，长宽1*1cm左右。 7天 每周1,3 激光共聚焦与原子力显微镜 冯1、激光共聚焦显微镜部分(LSM) 包括光学显微镜和激光显微镜两部分。光学显微镜从样品上方照射可见光（波长约400nm到800nm）利用反射光成像，放大倍数可达十倍到一千倍左右。激光显微镜采用405nm的短波长半导体激光、高数值孔径的专用物镜、以及独特的共焦光学系统，可以达到0.12μm的平面分辨率，还可实现高达4096×4096像素的高精度XY扫描。 2、原子力显微镜部分(SPM) 通过机械式地用探针在样品表面移动，检测出探针与样品之间产生的力、电的相互作用，同时进行扫描，获取图像。探针尖端曲率半径为10nm左右。SPM拥有多种观察模式，观察、测量样品表面形貌的同时，还可进行物性分析。OLS4500配有以下模式：接触模式、动态模式、相位模式、电流模式、表面电位模式和磁力模式。 ① 尽可能告知样品种类、性质； ② 样品表面尽可能平整。 3天 每周2,4 X射线荧光仪 孔4KW薄窗，Rh靶，端窗型 分析元素：B-U 最大功率：60KV，140MA 扫描角度范围SC：0°-118°（2θ）FPC：7°-148°（2θ） 连续扫描：0.1°-300°/m 样品最大尺寸：?50mm*H30mm 不含挥发性、腐蚀性组分；粉末样品（干燥）；块状样品直接测量也需干燥且不能超过样品最大尺寸，测定面需抛光。 7天 每周1,3上午 PE AA-800原子吸收光谱仪 张玥波长范围：185-900nm; 氘灯背景校正：校正周期≤2ms,最大校正≥2.5Abs; 火焰法：5mg/L铜溶液，吸光度≥0.9A,RSD﹤0.5％; 石墨炉温控：40-3000℃，最大升温速度≥2000℃/s; 石墨炉检出限：Pb,0.2ug/L; 火焰系统：铜元素≤0.01mg/L ① 固体样品：一般为粉碎过120目的样品，送样量一般为5-10克；特殊元素如Au需过200目，送样量一般为20克。 ② 液体样品：需为清亮的溶液，测定火焰的酸度需≤2%，测定石墨炉的酸度需≤2‰ 固体样品两周后出结果，液体样品一周后出结果 周一，三上午 NETZSCH STA409PC 同步热分析仪 张湘辉炉体：SiC（室温－1500 ℃）；加热速率：0－50 K/min；传感器：TG-DSC；TG-DTA；样品重量范围：0－5000mg；TG 解析度：0.2μg；外置质量流量计，包含2路吹扫气和1路保护气。 在不破坏晶体结构的前提下，样品最好研磨至200目，过筛；样品中吸附水较多的情况时，120度烘干处理（如果样品中结晶水的脱出与吸附水脱出叠加时，可以不处理）；高分子材料可以是薄皮状。 一周内 周一、三、四、五下午 Netzsch DIL402PC热膨胀仪 张湘辉温度范围：RT-1300℃；升降温速率：0-50 K/min；样品支架：石英支架（ 1100℃），氧化铝支架（ 1600℃）；测量范围：500／5000μm；样品长度：最大50mm；样品直径：最大 12mm；ΔL 分辨率：8nm。 样品要求加工成圆柱型或长方体，长度：25mm；直径或宽度：6mm；两个断面光滑。 一周内 周一、三、四、五下午 AFS-2202氢化物发生原子荧光光度计 王艳艳① 检出能力（DL） As、Se、Te、Bi、Hg、Sb等元素≤0.09ng/mL 冷原子方法测量Hg≤0.005ng/mL Cd(需用特殊试剂) ≤0.008ng/mL Zn(需用特殊试剂) ≤9.0ng/mL ② 测量精度（RSD） 50倍检出限浓度水平溶液测定R