good-第4章材料现代分析测试方法-射线衍射PPT.ppt

标准物相的a已知，根据所用λ，可算出某根衍射线的理论值θ，它与衍射图上所得相应的θ会有微小的差别，而这是未知诸误差因素的综合影响所造成的。 以这一差别对待测样的数据进行校正就可以得到比较准确的点阵常数。 从原则上说，只有当两根线相距极近，才可以认为误差对它们的影响相同。 标准样校正法实验和计算都较简单，有实际应用价值。 不过所得的点阵常数的精确度将在很大程度上依赖于标准物本身数据的精度。 一、内应力的分类及在衍射图谱上的反映 第七节 宏观应力测定 内应力是指产生应力的各种因素不复存在时，由于不均匀的塑性变形或相变而使材料内部依然存在的并自身保持平衡的应力。 第一类：在物体较大范围（宏观体积）内存在并平衡的内应力，此类应力的释放，会使物体的宏观体积或形状发生变化。第一类内应力又称“宏观应力”或“残余应力”。宏观应力使衍射线条位移。 第二类：在数个晶粒范围内存在并平衡的内应力，一般能使衍射线条变宽，但有时亦会引起线条位移。 第三类：在若干个原子范围内存在并平衡的内应力，如各种晶体缺陷（空位、间隙原子、位错等）周围的应力场、点阵畸变等，此类应力的存在使衍射强度降低。 通常把第二类和第三类应力称为微观应力。 内应力按其平衡范围分三类 与其它方法相比，用X射线衍射法测定应力有许多优点： a. 无损检测外， b. 可测定表层各局部小区域的应力， c. 可同时分别测得宏观应力与微观应力， d. 可同时测定复相中各相的应力等。 X射线法的不足之处在于其测定准确度尚不十分高，在测定构件动态过程中的应力等方面也存在一定的困难。 宏观应力在物体中较大范围内均匀分布，产生均匀应变，表现为该范围内方位相同的各晶粒中同名（HKL）面晶面间距变化相同，从而导致衍射线向某方向位移，这就是X射线测量宏观应力的基础。 测定宏观应力，就是根据衍射线条位移，求出面间距的相对变化（应变），再应用弹性力学中应力应变之间的关系求出宏观应力。 二、宏观应力测定原理 在无应力状态下，不同方位的同名晶面的面间距相等。而当受到一定的应力σφ时，不同晶粒的同名晶面的面间距随晶面方位及应力的大小发生有规律的变化。某方位面间距相对于无应力时的变化 ，反映了由应力造成的面法线方向上的弹性应变，即： 图 应力与不同方位同种晶面面间距的关系 面间距随方位的变化率与作用应力之间存在一定函数关系。 问题的关键：建立待测宏观应力σφ与空间方位上的应变之间的关系式。 材料内部通常处于三轴应力状态，但表面只有两轴应力。 由于X射线照射的深度很小，故只需研究两轴应力（平面应力）的X射线测定。 X射线法的目的是测定沿试样表面某一方向上的宏观应力σφ。 为此，要利用弹性力学理论求出σφ的表达式，将其与晶面间距的相对变化或衍射角的位移联系起来，得到测定宏观应力的基本公式。 为测量σφ需进行两次照射以测得两个方向上的应变，如第一次测量垂直于表面的应变ε3，第二次测量沿OA方向的应变εψ。 εψ必须在ε3和σφ所决定的平面内。 图 应力应变的方向 根据弹性力学原理，沿OA方向的应变与三个主应变的关系为： 式中 α1,α2,α3—分别为εψ相对于三个主应力方向上的方向余弦。 代入上式并整理得： 根据广义虎克定律，且当σ3 = 0时可得： 式中 E—弹性模量； μ—泊松比； σ1、σ2—主应力。 (a) 沿OA方向的应力σψ和主应力σ1、σ2及σ3的关系与应变相似，即： 因为 σ3=0 所以 当ψ=90°时，σψ变为σφ，且 ，所以： 上式中的σφ，是在试样表面上沿OB方向的应力，这正是需要测求的。 下面进一步推出实用的表达式。 (b) 上式表达了σφ与εψ和ε3之间的关系。 (d) 用X射线法可测得沿OA方向上的应变εψ及第三方向上的主应变ε3： 式中 dψ——应力试样中与OA方向相垂直的某种晶面的面间距