XRD分析方法介绍PPT.ppt

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XRD分析方法介绍PPT

2.3 衍射线分离 2.3.1 Kα双线宽化效应及分离 实验中常用的 Kα 辐射线,实际是包含了 Kα1 与 Kα2 双线,导致衍射谱线增宽。 当衍射谱线 Kα 双线完全分开时,可直接利用 Kα1 线形,否则必须进行 Kα 双线分离。 即使无物理宽化因素的标准样品,其衍射线形也往往不能将双线分开,实测曲线宽度是 Kα 双线的增宽效果。 为了得到单一 Kα1 衍射线形,需要进行 Kα 双线分离工作。 Kα 双线分离的常用方法是Rechinger法,这种方法假定 Kα 双线的衍射线形相似且底宽相等,谱线 Kα1 与 Kα2 的峰值强度比值为 2:1。 当辐射线Kα1 与 Kα2的波长存在 Δλ 的偏差时,则衍射角 2θ 的分离度为 图中为实测X射线衍射谱线,可见其衍射峰形很不对称。经过 Kα 双线分离后的衍射谱线,表明其 Kα1 峰形比较对称。 2.3.2几何宽化与物理宽化的分离 完成对被测样品及标样的实测衍射谱线 Kα双线分离后,利用它们的 Kα1 线形,进行几何宽化线形与物理宽化线形的分离工作。它们的卷积关系 用实验测得的h(x)及g(x)数据,通过傅里叶变换求解卷积关系, 可以精确求解物理宽化线形数据f(x)及物理宽度β,只是计算 工作量相当大而繁,必须借助计算机技术。 为了避开必须求解 f(x) 的困难,另一途径便是直接假设各宽化线形为某种已知函数,这便是所谓近似函数法。 从数学角度,近似函数法似乎不很严谨,但它确实因绕开了求解物理宽化线形函数的困难,而使工作大为简化。 必须强调,标样的选择十分关键。利用没有任何物理宽化因素的标准样品,采用与待测试样完全相同的实验条件,测得标样的衍射线形,并以其峰宽定为仪器宽度。 2.3.3 细晶宽化与显微畸变宽化的分离 当试样只包括细晶宽化时,将物理宽度β代入 D=λ/(βcosθ) 求解亚晶块尺寸D。 对于只包括显微畸变的情况,将β代入ε=βcotθ/4 即可求出显微畸变ε值。 判断细晶宽化或显微畸变宽化,主要是观察试样不同衍射级的衍射线物理宽度β。 如果 βcosθ 为常数就说明线宽是由细晶所引起的 如果βcotθ 为常数时说明主要是由显微畸变引起的 如果二者都不为常数则说明两种宽化因素都存在 3. X射线物相定性分析 粉末晶体X 射线物相定性分析是根据晶体对X射线的衍射特征即衍射线的方向及强度来达到鉴定结晶物质的。一旦样品和已知物相的衍射数据或图谱对比后相吻合,则表明待测物相与已知物相是同一相。 原因: 1)每一种结晶物质都有各自独特的化学组成和晶体结构,不会存在两种结晶物质的晶胞大小、质点种类和质点在晶胞中的排列方式完全一致的物质; 2)结晶物质有自己独特的衍射花样。(d、θ和 I); 3)多种结晶状物质混合或共生,它们的衍射花样也只是简单叠加,互不干扰,相互独立。(混合物物相分析) 3.1 定性分析原理 X射线物相分析原理: 任何结晶物质都有其特定的化学组成和结构参数(包括点阵类型、晶胞大小、晶胞中质点的数目及坐标等)。当x射线通过晶体时,产生特定的衍射图形,对应一系列特定的面间距d和相对强度Ⅰ/Ⅰ1值。其中d与晶胞形状及大小有关, Ⅰ/Ⅰ1与质点的种类及位置有关。所以,任何一种结晶物质的衍射数据d和Ⅰ/Ⅰ1是其晶体结构的必然反映。 将实验测定的衍射花样与已知标准物质的衍射花样比较,从而判定未知物相。 混合试样物相的 X 射线衍射花样是各个单独物相衍射花样的简单迭加,根据这一原理,就有可能把混合物物相的各个物相分析出来。 3.2 物相定性分析过程 物相定性分析就是确定试样中所含的物相。试样中所含物相的数目不同,物相定性分析情况也有所不同。 在进行物相鉴定时,考虑到实验误差及试样与标准样品的差异,允许实测的衍射数据与索引或卡片数据有一定的误差。要求d值尽量符合(误差约为±1%);相对强度误差可较大,至少变化趋势或强弱次序应尽量相符。另外,实测数据与索引或卡片标准数据对比时,应注意保持整体观念,因为并不是一条衍射线代表一个物相,而是一套特定的“d- Ⅰ/Ⅰ1”数据才代表某一物相,因此,一般情况下,若有一条强线完全对不上,则可以否定该物相的存在。 常规物相定性分析的步骤如下: (1)实验 用粉末照相法或粉末衍射仪法获取被测试样物相的衍射花样或图谱。 (2)通过对所获衍射图谱或花样的分析和计算,获得各衍射线条的2θ,d 及相对强度大小I/I1。在这几个数据中,要求对2θ和d 值进行高精度的测量计算,而I/I1对精度要求不高。目前,一般的衍射仪均由计算机直接给出所测物相衍射线条的d值。 (3)使用检索手册,查寻物相PDF卡片号 根据需要使用字母检索、

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