X射线光谱分析-王辉PPT.ppt

X射线荧光光谱;一、概述 generalization;二、X射线与X射线光谱 X-ray and X-ray spectrum;2.X射线光谱;（2）X射线特征光谱;特征光谱——定性依据;三、X射线的吸收、散射与衍射 absorption, diffuse and diffraction of X-ray;X射线的吸收;元素的X射线吸收光谱;2.X射线的散射;（2）非相干散射;3. X射线的衍射;Bragg衍射方程及其作用; X射线荧光光谱分析;一、X-射线荧光的产生 creation of X-ray fluorescence;Auger 效应;荧光产额：用来描述从一能级产生的光子数的相对效率的大小;Moseley 定律;特性X射线的能量;定性分析的原理;定量分析的应用;事先测定标准物质 (已知浓度的样品) ↓ 从测定结果中求得浓度和X射线强度的关系(标准曲线) ↓ 根据标准曲线算出实际样品的浓度;二、X射线荧光光谱仪 X-ray fluorescence spectrometer;（1）X射线管(光源);（2）晶体分光器;（3）检测器;（4）记录显示;晶体分光型X射线荧光光谱仪扫描图;2. 能量色散型X射线荧光光谱仪;能量色散型X射线荧光光谱图;能量色散型X射线荧光光谱图;样品制备;保证被动分析的较薄的表层真正代表整个样品，消除试样组成不均匀性、颗粒分布不均匀性或粒度不均匀性； 对于重元素分析，还应保证样品具有足够的厚度。;金属;对于多数样品，三个主要制约因素：样品尺寸、样品粒度的均匀性、样品组成的不均匀性。 既要样品制备简单，又要分析精度高是很困难的，选择最合适的制备方法，须在制样手续与分析精度之间进行平衡;样品状态;制备要点归纳为： 均匀化处理；同一类物料分析中，标准样品与被测样口要采用相同的制备方法；注意控制污染。在高精度分析中，还必须注意样品表面状态、样品厚度、样口制备过程等造成的X射线强度的变化;特点与应用 可测原子序数5~92的元素，可多元素同时测定； 特点： (1) 特征性强，内层电子跃迁，谱线简单 (2) 无损分析方法，各种形状试样，薄层分析 (3) 线性范围广，微量—常量 缺点：灵敏度低(0.0X%)；;XRF应用领域：