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材料拆分原则.pptVIP

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材料拆分原则

XRF仪器分析上的优点 能量散射X光荧光分析仪(Energy Dispersive X-ray Fluorescence, ED-XRF)之分析技术已使用多年,多应用于复杂成分样品之元素分析及组成比例分析,如矿藏之元素成分纯度分析、油品元素成分分析、环境样品中之土壤、水、空气中微粒样品之元素组成及浓度分析等。随着绿色环保意识抬头,绿色地球已成为国际共识,各个国家对于无机重金属管制也趋于严格,从各国的环保单位EPA到国际联盟的共识法规,例如京都协议、欧盟的废电器电子机器再利用指令(WEEE)及特定有害物质的使用限制指令(RoHS)等,对于环境及材料中重金属的管制都有明文的规定与共识,因此,在无机重金属的量测分析工具上,如何快速、准确及符合法规的分析结果,是每一位做重金属分析的人所必须考虑的问题 。 XRF仪器分析上的优点 能量散射X光荧光分析仪在分析上,因其下列几项优点,使其在应用上愈来愈广,逐渐有取代现有ICP及AA等湿式化学分析法的趋势: XRF仪器分析上的优点 (三)样品完整性:以ED-XRF分析可保存样品完整性,是属于非破坏性检验的一种,若以其它方法分析,如ICP或AA分析样品,均要进行样品消化,破坏样品完整性,样品即无法再使用。以本法分析之优点是能将样品妥善保存,不会因经ED-XRF分析后留下不良效应,使样品能做后续之处理、分析,这对样品多项目分析或不易取得之样品有相当之帮助。 (四)同时分析多种元素:ED-XRF在分析方法对周期表元素从钾(k)到铀(U)均有一定之感应,且可以同时准确分析多个元素。 拆分的基本原则 我们测试的材料需为均质材料。欧盟的技术顾问委员会(TAC)给出的关于均质材料的指导如下:“不能被机械分离成不同材料的材料。”后来有定义为:术语“均质”是指“统一的整体组成”。单独型式的“均质材料”的例子是:塑料,陶瓷,玻璃,金属,合金,纸,板,树脂,涂层。术语“机械分离”是指原则上用机械手段如拧、割、压、磨等能将样品分离。 拆分的基本原则 复 合 材 料 电线等被覆材料(1) 电线等的被覆材料(2) 电线等的被覆材料(3) 树脂部分厚度厚的场合 基板、中间含有基板的样品 涂饰和被镀的样品 泡沫聚苯乙烯等的包装材料 金属、塑料以外的样品(1) 金属、塑料以外的样品(2) 金属、塑料以外的样品(3) 无铅焊锡中的铅(1) 无铅焊锡中的铅(2) 电镀层的材质,因为电镀层的部份只占样品的基材的千分之ㄧ或是万分之ㄧ, 【X射线对金属的穿透力约只有100μm左右】,所以如果待测样品上有电镀层, 检测器收集到的荧光X射线会依照打穿的深度会有一定的强弱,【所以电镀层的厚度将会引响与检测单位的差异性】。 处理方式可将镀层部分,【磨除再进行测试】即可厘清是否为电镀层或是基材超出RoHS规范外,即可减少与其它检测单位的差异,且可以准确分析电镀层及基材的数据。 ~金属部品(无表面处理)中含有Pb的事例 ~金属部品(无表面处理)中含有Cd的事例 金属的测定事例:参考 29870ppm 30320ppm Pb ICP测定值: 荧光X射线测定值: 测定 元素 样品就那样测定后的波峰 测定事例(6) 金属部品(无表面处理) 测定试样 测定步骤 [定量结果] 原样测定试样: 检测出Pb 用ICP分析 88 ppm 95 ppm Cd ICP测定值: 荧光X射线测定值: 测定 元素 样品就那样测定后的波峰 测定事例(7) 金属部品(无表面处理) 测定试样 测定步骤 [定量结果] 原样测定试样: 检测出Cd 用ICP分析 ~金属部品(镀品):铁(Fe) -素材中含有Pb的事例~ 原样测定试样的光谱 去除电镀测定的光谱 测定事例(8) 金属部品(镀品) 测定试样 用ICP分析 测定步骤 去除试样的电镀: 检测出Pb 2498ppm 2783ppm 1349ppm Pb ICP测定値:原样测定试样 荧光X射线测定値:去除试样的电镀进行测定 荧光X射线测定値:  原样测定试样 测定元素 电镀品必须去除后才能测定 原样测定试样: 检测出Pb [定量结果] 原样测定试样的光谱 去除电镀测定的光谱 测定试样 ~金属部品(镀品):黄铜素材中含有的Pb的事例~ 测定事例(9) 金属部品(镀品) 用ICP分析 去除试样的电镀: 检测出Pb 30398 ppm 29496 ppm 4431 ppm Pb ICP测定値:原样测定试样 荧光X射线测定値:去除试样的电镀进行测定 荧光X射线测定値:  原样测定试样 测定元素 电镀品必须去除后才能测定 原样测定试样: 检测出Pb 原样测定试样的光谱 去除电镀测定的光谱 测定试样 ~金属部品(镀品):黄铜素材中含有的Cd的事例~ 测定事例(10) 金属部品(镀品) 用ICP分析 去除试

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