SP-3160Ⅱ大规模集成电路测试系统-北京华峰测控技术有限公司.doc

STS6101 超大规模集成电路测试系统 硬件使用手册 北京华峰测控技术有限公司 目 录 目录 前 言 2 1、概述 3 1.1 系统类型及用途 3 1.2 系统工作原理 4 1.3 STS6101 测试系统结构 5 2、系统主控计算机及外设 9 2.1 系统主控计算机 9 2.2 计算机接口板 9 3、系统主控制器板 9 4、数字测试图形通道板 10 4.1 数字测试单元的组成 11 4.2 数字测试单元的主要特点 12 4.3 功能测试原理 12 4.4 测试图形发生器（TPG） 13 4.5 算法图形发生器（APG） 19 4.5.1 算法图形地址发生器 20 4.5.2 算法图形数据发生器 23 4.5.3 算法图形被测存储器命令位 24 4.5.4 算法图形信号的通道分配 24 4.6 定时发生器（TG） 24 4.7 格式器 26 4.8 逻辑比较电路 28 4.9 数字管脚电子电路（PE） 30 4.9.1 驱动器、电平比较器 30 4.9.2 每管脚精密直流测量单元（PPMU） 32 4.9.3 每管脚程控电子負载 32 4.10 数字管脚时间测量单元（TMU） 32 4.10．1时间参数测试微指令说明 32 5、系统精密直流测量单元板（系统PMUDPS板） 33 5.1 系统精密直流测量单元（PMU） 34 5.2 程控电源（DPS） 35 6、系统底板 36 6.1 系统底板1 36 6.2 系统底板2 37 6.2．1 功能板信号定义 39 7、测试板卡 44 7．1 、256PIN系统数字信号转接板 44 7．2 DIP40通用数字测试适配器 47 7．3、512PIN系统数字信号转接板 49 8、系统直流参数自检∕校准板 54 9、系统安装条件 55 9.1 场地要求 55 9.2 机房环境要求 55 9.3 供电电源要求 56 10、 系统主要性能指标 57 10.1 系统 57 10.2 数字测试通道板 57 10.3程控电源精密直流测量单元 59 10.3.1、DPS（1-16） 59 10.3.2、HIDPS（1） 59 10.3.3、PMU（1-8） 60 10.3.4、PPMU 61 前 言 《STS6101 超大规模集成电路测试系统硬件使用手册》是STS6101 超大规模集成电路测试系统的主要技术文件之一。旨在阐明该系统产品的用途、性能、组成、工作原理及主要性能指标，为用户了解、选购、合理的使用及维护本系统提供必要的技术资料。 本手册分除了对整个系统加以概述外，主要介绍了系统基本组成部分——系统主控制器板、数字测试通道板、精密直流测量单元板及电源子系统等部件的工作原理、主要功能和用途，以及系统安装使用条件和主要性能指标。 用户在安装、使用系统产品前，请务必仔细阅读本手册和《STS6101 超大规模集成电路测试系统软件使用手册》等技术资料，这对更好地使用、维护系统产品，开发各种高质量的测试程序、最大限度地发挥系统的能力是十分有益的。 1、概述 1.1 系统类型及用途 STS6101 超大规模集成电路测试系统是一个计算机辅助的、具有高度模块化结构的新型集成电路综合测试系统。该系统以数字VLSI测试模块为核心，可快速、精确、全面的对各类（TTL、ECL、高速CMOS等）大、中、小规模的随机逻辑数字集成电路（如各系列通用数字IC、CPU、SOC、微处理器外围电路、门阵列产品及专用集成电路产品等）和各类通用存贮器IC（如DRAM、SRAM、ROM、FLASH等）；主要测量和测试内容为被测器件的直流参数、动态功能及交流参数。因此特别适合于集成电路的生产厂、各类电子整机厂、IC及整机电路的设计部门及质量监测中心用来进行集成电路的生产测试（包括中测和成品测试）、入厂检验测试、设计验证、质量可靠性分析及认证测试。主要测试方式包括：合格∕不合格方式（Go∕no-go）、数据记录方式（Data log）、手动方式（Manual）及评价方式（Verification）。本系统所具有的专用外设接口可与各类自动上料器及中测探针台配接，以完成IC的批量自动测试。此外，本系统的可重构多总线结构可方便的接入各种不同接口（如：GPIB、RS232、Can和网络）的测量∕测试仪表（如数字电压表、频率计、信号发生器等），作为系统校准设备或辅助测试选件，便于进行系统校准、系统指标的自动计量，并参与其它各种参数的测量∕测试。STS6101 超大规模集成电路测试系统外形见图1-1 图1-1 STS6101 超大规模集成电路测试系统外形图（台式） 1.2 系统工作原理 集成电路测试系统的基本功能是检测被测器件(DUT)的工作特性是否符合器件厂家给