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Opens and shorts Contents 测试目的 基础知识 测试的基本原理 PMU和PE Card PMU测试方法 Functional测试方法 两种测试方法的不足和生产中实际应用的方法 PMU测试程序 Function 测试程序 总结 测试目的： 　　检验测试系统和DVC的电气连接情况(system contact) 　　chip是否存在物理缺陷或DVC有组装不良(Assembly Physical defect) 　　作为第一项的原因，个人认为是确认电气连接，为以后的测试和不良分析提供基础 　　以Terachips的20SSOP-225产品为例：PMU TEST 　　Open short的测试时间占总测试时间的11.2%-12.1% 　　Open short的Function测试时间很短，(4+signal Pin)*10us. 　　设备消耗的时间和测试系统需要的wait time和settling time，占大多数消耗时间 　　现在产品的OS rata都是很小，通过Open short来减少测试时间的说法不实际 　　该做得是利用OS测试来发现测试过程中设备存在的问题： 提高Prime yield，减少good rata 特别说明 1: Power和GND之间是有一个反向的PN结的，被称为Natural diode。测试方法同Down diode的测试，但需要单独测试。对于T3324,更是需要单独DUT单独Power测试 2：无论是DC测试还是Function测试，测试原理讲的都是存在保护二极管的测试，对地或电源Pin。所谓的open short全部是对信号Pin和电源Pin两者之间的diode而言的，也包含线路。 3： 信号Pin之间的short，DC测试是无法测量，需要使用Function的办法。这是DC测试的重要缺点。 4： Function测试的缺点是在fail的时候不知道是Open还是short，其根本原因是在VOH和VOL的设置使用 Z mode问题，所以在实际的生产中，我们使用的是把Open和Short测试分离，具体是： 1. Down diode open 测试 2. Down diode short 测试 3. Pin to Pin short 测试 4. Up diode open 测试 5. Power to GND short 测试 总结 如果一个Pin的测量电压是3V左右，说明是Open。电压限制在3V内 如果一个diode测量short，其压降应该为0V，但测量单元不同，会有偏差 所有的Open short测试的二极管，只有VDD对GND的叫Natural diode，其他叫protection diode 没有保护二极管则测试open Open Short测试是要先让所有Pin接地 要注意设置电压保护，尤其是Open测试时电压不能超过3V Function测试时，用注意VREF的设置，必须能顺利的拉出或灌入电流 要及时的关闭Driver，不能在驱动的同时进行测量，以后其他的Function测试中，不能在DVC有信号输出的时候用Driver驱动电压给Pin。容易烧毁设备或DVC。 Pin上和GND或VDD有电容时，会影响测试结果。 当测试一个DVC显示short时，最少是两个Pin同时short，ADVANTEST通常只显示一个Pin。另外一个Fail stop ? Copyright 2008 PSTS CORPORATION Preliminary Program Seminar Test Engineering Team Copyright 2009 ? PSTS CORPORATION Preliminary Test Engineering Team Copyright 2009 ? PSTS CORPORATION 孙　磊 2009.03.12 Open short的测试基础： 如左图PN结伏安特性图所示： 二极管的正向特性和反向特性， 正向开启电压≈0.5V 导通电压0.6V-0.8V 反向饱和电流＜0.1uA 当导通电流在100-500uA时，导通电压在0.65V左右 利用以上描述的关系，OS测试利用ISVM测试法： 二极管和连接都正常是，压降为0.65V左右 二极管或连接open时，压降无限大 二极管失效和连接ok时，压降接近OV。 VDD VSS Signal Pin PMU的知识点包含: l: Force and Measurement Modes ISMV和VSMI不可以随意切换 2: Force and Sens