中低能X射线输出量的测算.ppt

中低能X射线输出量的测算 (京津地区放射物理专业组学术会议) 2005.1.29 张绍刚 X射线的能量划分为高、中、低能三部分： 高能——加速器和钴-60治疗机产生的X及γ射线 中能——深部X线治疗机产生的100～300kV的X线 低能——X线治疗机产生的10～100kV的X射线 国内临床上把中、低能X射线分成 三种： 深层治疗为150～400kV（0.5mmCu复合滤过片） 浅层治疗为80～120kV（1～1.4mmAl滤过片） 接触治疗为10～60kV（0～1.0mmAl滤过片） 中能X射线吸收剂量的测算 1.深部X线机低电压半价层的测算 2.对辐射质引起的照射量校准因子改变的修正 3.吸收剂量的测定（IAEA TRS №277） 4.水模中吸收剂量的测定方法(若干规定) 5.空气中测量照射量并转换为水模中吸收剂量的方法 6.IAEA 277报告与“若干规定”的测算结果的比较 1.深部X线机低电压半价层的测算 临床上，通常对： 150kV以上X射线采用纯铜材料； 150kV以下X射线采用纯铝材料。 国家PSDL给出了60～250kV所对应的全部铜的半价层厚度（如HVL 60kV-0.066mmCu、100kV -0.165mmCu）。 表1 X射线管电压（60～250kV）对应的Cu的半价层 管电压 半价层（HVL） kV mm Cu 60 0.066 100 0.165 130 0.506 180 1.000 250 2.480 Siemens E11 X8-152型半价层测试仪 表2 等效半吸收层厚度 管电压（kV） 半价层（mm） 铝（Al） 铜Cu 50 2.24 0.072 70 2.94 0.09 100 4.28 0.17 120 6.31 0.30 2.对辐射质引起的照射量校准因子改变的修正 表3 X射线照射量校准因子 管电压 半价层（HVL） 校准因子 kV mm Cu N 60 0.066 98.9 100 0.165 97.6 130 0.506 95.9 180 1.000 94.6 250 2.480 93.6 注：剂量计BDM-1；电离室0.6cm3 №9612 3. 吸收剂量的测定（IAEA TRS №277） 照射量与空气比释动能的校准因子的转换： NX=X/M（C·kg-1·div-1）或NK=K/M（J·kg-1·div-1） NK = NX·W/e·[1/(1-g)] g是电离辐射产生的次级电子消耗于轫致辐射能 量占其初始能量的份额。 对于光子最大能量小于300keV的X射线，g值可忽略不计，即： NK = NX·W/e 水模中校准点和参考点的吸收剂量测算： DW(5cm)=M·NX·W/e·Ku·(μen/ρ)w,air·Pu·Pcel·K 或 DW(5cm)=M·NK·Ku·(μen/ρ)w,air·Pu·Pcel·K 式中,Ku是校准剂量计的辐射场与被测量的辐 射场不同而引起的修正，一般取Ku=1。 表5 水对空气的质能吸收系数比(μen/ρ)w,air