不仅要了解每位作者所提出的论点.PPTVIP

Using Control Charts to Monitor Process and Product Quality Profiles 指導教授： 童超塵 作者：William H. Woodall and Dan J. Spitzner,Journal of Quality Technology; Jul 2004 主講人：廖皇盛 Outline Introduction Framework Conclusions Introduction 本文主要是文獻整理的方式來探討每位作者所提出的方法和應用，大多是以文字敘述為主。 本報告先介紹文章的基本架構後，以Phase Ⅰ和Phase Ⅱ 為例來簡略說明本文所整理的相關文獻。 希望能對文獻整理有更進一步的了解。 Framework 在Introduction的部份，作者對定義Profiles的相關文獻來做探討。 在Conclusions的部份，作者說明哪些論點或方法是比較常被應用的；哪些是比較少被討論的。 其它部份是對每個不同的方法和應用提出相關作者的論點、方法及建議。 Phase Ⅱ Methods Kang and Albin(2000)，他們的研究中包含多變數的T2 Chart用最小平方法估計Y-截距和斜率的連續向量，並提出EWMA Chart來監控平均誤差和Range(R-) Chart來監控誤差項的變異數。 Kim, Mahmoud, and Woodall(2003)，他們分別對Linear function 的Y-截距和斜率做估計，並分別建立EWMA Chart，並以其中一個EWMA Chart來取代 R-Chart。 Ajmani(2003)，將上述的方法應用在半導體製造上。 Phase Ⅰ Methods Stover and Brill(1998)，提出Hotelling,s T2的方法來估計Y-截距和斜率。 Kim et al.(2003)，提出Shewhart-type T2 Chart來對Y-截距、斜率和誤差做監控；如果X值的平均數為0時，則要對Y-截距和斜率做個別的監控。 結論 本文對於每位作者所提出的方法和應用做簡單的敘述後，並指出其特別之處。 在方法描述時，本文有對不同作者所提出的方法做比較，說明較晚的作者為什麼會提出這樣的論點。 在某些方面的應用，可能會有數位作者提出不同的方法來使用，本文會經比較後提出建議的方法。 感想 看完了這篇paper後，我發現要整理一篇文獻回顧的paper還真是不簡單，不僅要了解每位作者所提出的論點，還要去找出其不同的地方，並且說明後者是基於什麼樣的理由要對前者的論點做改進，還要讓整篇文章有連慣性。 報告到此結束，謝謝大家 * 國立雲林科技大學 工業工程與管理所 * 4.Profile-to-Profile Common-Cause Variation Conclusions Relationships with Other SPC Methods 3.Methods Involving Nonparametric Regression 2.Methods Based on Wavelets 1.Nonlinear Profiles Other Profile Models and Approaches 4.Other Linear Profile Approaches 3.Linear Calibration Applications 2.Phase Ⅰ Methods 1.Phase Ⅱ Methods Analysis of Linear Profiles 5.The Control Chart Statistic 3.Model Selection 2.Principal-Components and Functional Data Analysis 1.Phase Ⅰvs. Phase Ⅱ Applications Some General Issues Introduction 描述Phase Ⅱ的定義 描述該作者的論點 描述該作者所提出的方法 * 國立雲林科技大學 工業工程與管理所