基于V93000的SoC中端口非测试复用的ADC和DACIP核-电子学报.PDFVIP

第 期 电 子 学 报 ７ Ｖｏｌ．４１ Ｎｏ．７ 年 月 ２０１３ ７ ＡＣＴＡＥＬＥＣＴＲＯＮＩＣＡＳＩＮＩＣＡ Ｊｕｌ． ２０１３ 基于 的 中端口非测试复用的 Ｖ９３０００ ＳｏＣ 和 核性能测试方案 ＡＤＣ ＤＡＣＩＰ １ １ ２ ２ 裴颂伟 ，李兆麟 ，李圣龙 ，魏少军 （ 清华大学信息技术研究院，北京 ； 清华大学微电子研究所，北京 ） １． １０００８４２． １０００８４ 摘 要： （ ）芯片设计中，由于芯片测试引脚数目的限制以及基于芯片性能的考虑，通常有一 ＳｏＣＳｙｓｔｅｍｏｎａＣｈｉｐ 些端口不能进行测试复用的 （ ）核将不可避免地被集成在 芯片当中 对于端口非测试复用 ＩＰＩｎｔｅｌｌｅｃｔｕａｌＰｒｏｐｅｒｔｙ ＳｏＣ ． ＩＰ 核，由于其端口不能被直接连接到 （ ）设备的测试通道上，由此，对端口非测试复用 核的 ＡＴＥＡｕｔｏｍａｔｉｃＴｅｓｔＥｑｕｉｐｍｅｎｔ ＩＰ 测试将是对 芯片进行测试的一个重要挑战 在本文当中，我们分别提出了一种基于 测试仪对端口非测试 ＳｏＣ ． Ｖ９３０００ 复用 （ ）以及 （ ） 核的性能参数测试方法 对于端口非测试复 ＡＤＣＡｎａｌｏｇｔｏＤｉｇｉｔａｌＣｏｎｖｅｒｔｅｒ ＤＡＣＤｉｇｉｔａｌｔｏＡｎａｌｏｇＣｏｎｖｅｒｔｅｒＩＰ ． 用 和 核，首先分别为他们开发测试程序并利用 通过 芯片的 （ ）总 ＡＤＣ ＤＡＣＩＰ Ｖ９３０００ ＳｏＣ ＥＭＩＦＥｘｔｅｒｎａｌＭｅｍｏｒｙＩｎｔｅｒｆａｃｅ 线对其进行配置 在对 和 核进行配置以后，就可以通过 捕获 核采样得到的数字代码以及 ． ＡＤＣ ＤＡＣＩＰ Ｖ９３０００ ＡＤＣＩＰ 通过 采样 核转换得到的模拟电压值，并由此计算 以及 核的性能参数 实验结果表明，本文 Ｖ９３０００ ＤＡＣＩＰ ＡＤＣ ＤＡＣＩＰ ． 分别提出的针对端口非测试复用ＡＤＣ以及ＤＡＣＩＰ核测试方案非常有效． 关键词： 片上系统；模数转换器；数模转换器；Ｖ９３０００测试仪；性能参数 中图分类号： 文献标识