[工学]04-1吸收.ppt

4.1.4 干扰及消除 物理干扰——试液与标准溶液物理性质差异所产生的干扰。 来源：试样粘度、表面张力使其进入火焰的速度或喷雾效率改变所引起的。 消除：可通过配制与试样具有相似组成的标准溶液或标准加入法来克服。 4.1.4 干扰及消除 化学干扰——由于被测元素原子与共存组分发生化学反应造成的干扰。 来源：分析物与共存元素发生化学反应生成难挥发的化合物从而影响原子化效率，使待测元素的吸光度降低。 4.1.4 干扰及消除 　 消除： 选择合适的原子化方法—温度、还原性质等； 增加观察高度—增加受热时间； 加入释放剂—PO43-对Ca2+的干扰：加入La(III)、Sr(II) 释放Ca2+； 加入保护剂— Mg 和Al 形成难溶MgAl2O4：加8-羟基喹啉作保护剂。 加入缓冲剂或基体改进剂—主要对GFAAS。加入EDTA可使Cd的原子化温度降低。 化学分离：溶剂萃取、离子交换、沉淀分离等 4.1.4 干扰及消除 电离干扰——由于被测元素原子在原子化器中电离所造成的干扰。 来源：高温导致原子电离，从而使基态原子数减少，吸光度下降。 消除：加入消电离剂(主要为碱金属元素)，产生大量电子，从而抑制待测原子的电离。如大量KCl 的加入可抑制Ca的电离。 4.1.4 干扰及消除 图4-19 电离干扰 A Ax C1 C2 4.1.4 干扰及消除 光谱干扰 光谱干扰包括: 谱线干扰和背景干扰。 谱线干扰：干扰物与分析物谱线分辨不开所　　　　　造成的干扰。 来源：1) 在光谱通带内有一条以上的吸收线； 　　 2) 在光谱通带内有一条以上的发射线； 3) 在光谱通带内有吸收线重叠。 消除：减小出射狭缝； 　　　另选分析线； 　　　分离干扰元素。 4.1.4 干扰及消除 图4-20 谱线干扰类型 a b c 4.1.4 干扰及消除 背景干扰——由于火焰分子发射、分子吸收和光散射所引起的光谱干扰。 分子发射背景干扰—— 来源：由火焰分子所发射的分子光谱所造成。 消除：光源调制。 4.1.4 干扰及消除 分子吸收——火焰中生成的氧化物等气体分子吸收光源辐射所引起的干扰。 光散射——火焰中固体微粒对光的散射所造成的假吸收现象。 4.1.4 干扰及消除 背景吸收的校正方法 Aa ＝ (A1a+A1b) - (A2a+A2b) Aa ＝ (A1a - A2a) + (A1b -A2b) 当：A1b ＝ A2b，A2a ＝０； 理想值 A1b ＝ A2b ，A2a≠０；背景被校正，灵敏度下降 A1b ≠ A2b ，A2a ＝０； 产生校正误差 　　 其中：A1b ≠ A2b； 校正不足 　　　　 A1b ≠ A2b； 校正过度 A1b ≠ A2b，A2a ≠０；不能校正背景且灵敏度下降 4.1.4 干扰及消除 1）邻近线背景校正（The two-line correction method） 校正原理：利用吸收线和非吸收线的吸收特性进行矫正。 校正方法： A = Aa+b - Ab 参比谱线选择： 参比线与测量线很近（保证二者经过的背景一致）； 待测物基态原子不吸收参比线； 参比线是测量原子的非共振线或元素灯内惰性气体元素的谱线。 ?1 ?2 原子吸收 + 背景吸收 Ab Aa+b 1为共振线；2为邻近线 4.1.4 干扰及消除 2）连续光源背景校正（The continuum-source correction method） 校正原理：利用锐线源和连续光源交替通过原子化器分别测定吸光值和背景值，然后通过差减得到净吸收值。 校正方法： AH=Aa+Ab AD=Aa’+Ab=Ab 则 A=AH-AD=Aa 图4- 21 氘灯背景校正原理 4.1.4 干扰及消除 优点：装置简单，能扣除0.5A(约70%吸收)。 局限性： 所扣的平均背景值不一定代表分析波长处的真正背景； 两个光源的光斑大小及能量分布不同，且光斑很难完全重叠； 只适用于紫外区域(190~350nm)。 4.1.4 干扰及消除 3）塞曼效应背景校正（The