运放稳定性13RO何时转变为ZO.PDF

13 RO ZO (2) 13 RO ZO (2) 1133 RROO ZZOO ((22)) 运放稳定性 ： 何时转变为 ？ 现在我们可以建立如图7.16 所示的、完整的射极跟随器ZO 曲线图集。从图7.16中我们可 以看出，ZO 由RO 决定，RO 对于放大器的单位增益带宽而言是常数，其会随着负载电流 的上升而下降。请注意，ZO是根据源极和漏极电流在轻负载条件下以及重负载条件下源极 或漏极ZO无显著差别的情况下得出的。在双极性射极跟随器放大器产品说明书中应包含了 这些重要的ZO曲线。 图 7.16：完整的ZO曲线：双极性射极跟随器 ZO ZO 双极性射极跟随器输出放大器的ZZOO及容性负载 对于射极跟随器输出级的容性负载，我们将采用图7.17中的模型。我们可以从产品说明书 中查询参数，也可以通过测量放大器无容性负载下的Aol 曲线获得参数。在放大器的空载 Aol曲线上，RO与CL相互作用形成第二个极点fp2。 图 7.17：双极性射极跟随器ZO及容性负载 我们将在射极跟随器双极性放大器上施加许多不同的容性负载，并测出RO及CL相互作用 形成的极点fp2。图7.18中的电路使用LT作为DC短路器来建立DC工作点。LT对于任选 的AC频率实现开路，因而我们可以观察到已修正的Aol曲线。CT对DC开路但对任何频 率的目标AC短路，并且CT还起到将AC测试源VG与电路连接的作用。通过检验我们发 现 Aol=VOA/VM。 图 7.18：用于测量修正Aol曲线的TinaSPICE电路 图7.19显示了多种不同容性负载情况下的最终修正Aol曲线。 图 7.19：不同CL值的修正Aol曲线 图7.20详细描述了RO及CL引起的fp2极点在修正Aol曲线中的预测位置。图中还显示了 对应于每个fp2 的实际的Tina SPICE 测量位置。由于采用了稳定的综合技术，Tina SPICE 测量的fp2实际值与我们的预测值并无显著差异。 图 7.20：不同CL的fp2位置：预测值及实际值 ZO ZO 双极性射极跟随器输出放大器ZZOO的总结 图7.21汇总了双极性射极跟随器放大器ZO的关键参数。在放大器的单位增益带宽范围内， ZO由RO决定，且相对频率而言为常数。当DC输出负载电流增加时，RO降低并与IOUT 成反比。容性负载、CL与RO相互作用以在原先的放大器Aol曲线上形成第二个极点fp2。 我们可以使用修正Aol曲线，来综合考虑适当的闭环补偿值以获得更好的稳定性。RO会随 过程与温度的变化而相应发生变化。对应于过程及温度变化的经验法则是 0.65* ROtyp (-55C) ～ 1.5*ROtyp(125C)，其中ROtyp为25C时的RO典型值。我们业已开发的经验法 则不总是适用于双极性射极跟随器放大器的开环输出阻抗。可从放大器制造商处获得最完整 和最精确的ZO数据，经测量也能获得。 图 7.21：双极性射极跟随器ZO的总结 CMOSRRO ZO CMOSRRO ZO CCMMOOSSRRRROO（轨至轨输出）放大器的ZZOO 图7.22 显示了典型的CMOSRRO 放大器拓扑。此类输出级中，RO（小信号、开环输出电 阻）通常是ZO（小信号、开环输出阻抗）的主要组成部分。RO 与大多数DC 负载电流成 反比。然而在轻负载电流情况下，RO 与DC 负载电流成正比。在中低频区域，ZO 通常呈 现为容性。由于RL（输出端的阻性负载）与ZO容性部分相互作用，因而放大器Aol曲线 在低频区域将受到影响。 图 7.22：典型的 CMOSRRO 放大器 图7.23以CMOSRRO放大器为例列出了相关参数。OPA348也是一种RRI（轨至轨输入） 放大器。CMOSRRIO（轨至轨输入/输出）拓扑理想适用于具有以下特性的单电源应用：输 入和输出轨上的摆幅很小、极低的静态电流以及极低的输入偏置电流。其噪声通常比双极性 射极跟随器放大器要高得多