原子吸收分光光度计解读与应用.pptVIP

扣背景技术 分析中产生的主要干扰之一 背景类型： 分子吸收： 气体分子氧化物　 　　　　 氢氧化物 盐类分子 光散射： 大分子 固体微粒 氘灯法背景校正 A空=Aa+Ab A氘=Ab A= A空- A氘= Aa+Ab – Ab=Aa 波长范围：200～360nm 自吸背景校正 塞曼校正 氘灯背景校正 待分析元素的主灵敏线大部份位于紫外区，所以氘灯法能校正大部分背景吸收，灵敏度的损失小。 缺点是不能校正光谱线重叠和结构背景。D2空心阴极灯校正 2. 自吸收校正 能进行全波段的背景校正，又能进行结构背景校正，但是降低了灵敏度。 TAS-986，990型原子吸收分光光度计同时具有上述背景校正功能，可以互补。 正常强度 190-300 nm 3. 塞曼校正 1974年开发了Zeman扣背景技术，利用被测元素空心阴极灯或者试样中被测元素的吸收线在磁场的作用下发生塞曼分裂进行背景扣除，其优点是全波段可用，但缺点也很明显——灵敏度低。 横向、纵向之分 磁场固定、可调之分 三磁场塞曼校正技术 E1 E0 E1 E1+ E1- p s+ s- n0 n* n0 n* s- s+ p 分析溶液 铅灯吸收值 背景校正 D2灯 自吸法 塞曼法 Pb 0.8 ug/ml(ppm) 0.038 0.031 0.028 0.015 2%NaCl 0.008 0.000 0.000 0.000 2%NaCl+0.4 ppm Pb 0.026 0.015 0.014 0.007 2%NaCl+0.8ppm Pb 0.044 0.030 0.029 0.014 2%KCl 0.007 0.000 0.000 0.001 2%KCl+0.4ppm Pb 0.025 0.015 0.014 0.009 2%KCl+0.8ppm Pb 0.045 0.032 0.028 0.015 1%CaCl2 0.016 0.000 0.000 0.000 1%CaCl2+0.4ppm Pb 0.039 0.015 0.014 0.008 1%CaCl2+0.8ppm Pb 0.057 0.030 0.028 0.015 氘灯/自吸/塞曼校正效果比较 基体改进技术（化学改进技术） 基体改进技术，是加入一种化学试剂到样品中，使基体转变成较易挥发的物质。被测元素变成稳定的化合物，以防止在干燥和灰化过程中被测元素的灰化损失和有利于消除基体干扰。 目前，基体改进技术已广泛用于石墨炉原子吸收测定生物和环境样品中痕量金属元素及其化学形态。到目前为止，约有50多种基体改进剂已用于30多种元素的分析测定。 常用的化学改进剂中，有（NH4）2HPO4、Ni、Pd等。 例如Cd溶液的灰化温度为300-350℃，加入（NH4）2HPO4后，生成较稳定的磷酸镉，灰化温度可提高到600℃。 若加入（NH4）2HPO4和Mg（NO3）2作改进剂，Pb的灰化温度可由450℃提高到800℃。 用 Pd作基体改进剂（200～400ug/ml）测定NaCl中Pb，灰化温度可提高到1200℃。 石墨管改性技术 石墨管内表面的物理化学特性是影响灵敏度和精密度的重要因素。用适当的方法改善石墨管的表面特性，从而改善其分析性能，这种技术叫做石墨管的改进技术。 热解涂层管：是通过将有机物的热解产物一热解石墨沉积在普通石墨管内表面而成。 无涂层管 热解涂层 涂层平台 AAS其他新进展 三、分析条件优化与干扰的消除 一、正确选择仪器参数 元素灯电流：小，灵敏度高但稳定性差大，引起自吸，缩短寿命 光谱带宽：对于谱线复杂的元素Fe\Co\Ni等要选择小带宽，主要是为了克服光谱干扰 负高压：不可太高 灯电流 吸光度 强度 噪音 灯电流的影响 光谱带宽的影响 Cu 0.4nm Fe 0.2nm以下 共振线 共振线 共振线 狭缝宽度 狭缝宽度 校正曲线弯曲 狭缝宽度 例如：在Ni232.0nm波长处以不同的光谱带宽（0.9nm、0.15nm、0.05nm）下绘制的标准曲线，其斜率及线性随着光谱带宽的变窄而改善。 噪音 EHT 800 600 400 200 负高压的影响 二、火焰法参数优化 在火焰中，自由原子的空间分布是不均匀的。因此，应该吸入标准溶液，通过调节燃气流量和火焰燃烧器的高度，选取最大吸收值的燃烧高