扫描隧道显微镜stm教材.docVIP

扫描隧道显微镜（STM）实验教材 1982年，国际商业机器公司苏黎世实验室的葛.宾尼（Gerd Binnig）博士和海. 罗雷尔（Heinrich Rohrer）博士及其同事们共同研制成功了世界上第一台新型的表面分析仪器----扫描隧道显微镜（Scanning Tunneling Microscope，以下简称STM）。它的出现，使人类第一次能够实时地观察单个原子在物质表面的排列状态和与表面电子行为有关的物理、化学性质，在表面科学、材料科学、生命科学等领域的研究中有着重大的意义和广阔的应用前景，被国际科学界公认为八十年代世界十大科技成就之一。为表彰STM发明者们对科学研究的杰出贡献，1986年宾尼和罗雷尔被授予诺贝尔物理学奖。借助于原子力显微镜(AFM)等扫描探针显微镜技术，人们对物质结构的了解延伸到纳米层次，促进了纳米科技的形成。 多年来，人们早就知道物质是由分子和原子组成的，这大多是通过实验间接验证的，例如X射线衍射等。这种经计算后得出的结果很难使人获得感性的知识。STM可以在极高的分辨率下直接给出固体表面原子的排列图像，使人们亲眼看见了它们的存在。和其它的传统显微镜相比，光学显微镜、扫描电子显微镜分辨率不够，而高分辨的透射电子显微镜虽然能够达到较高的分辨率，可它的制样异常麻烦，破坏了样品，而且必须在真空环境下测量。而STM则不需要昂贵的真空环境，在大气下就可以得到稳定的、高分辨的原子图像。 但STM也存在着本身的工作方式所造成的局限性。STM所观察的样品必须具有一定的导电性，因此它只能观察导体和半导体的表面结构，对于非导电材料，必须在其表面覆盖一层导电膜，但导电膜的粒度和均匀性等问题会限制图像的真实性，这就限制了STM的应用。继STM的成功之后，在STM的原理基础上又发明了一系列扫描探针显微镜（SPM），包括原子力显微镜（AFM）、近场光学显微镜（NSOM）、力显微镜（FM）、磁力显微镜（MFM）、极化力显微镜（SPFM）……已有二十多个品种。 学习和了解扫描隧道显微镜的结构和原理； 观测和验证量子力学中的隧道效应； 掌握扫描隧道显微镜的操作和调试过程，并以之来观察样品的表面形貌； 学习用计算机软件来处理原始数据图像。 [实验原理] 一．隧道电流 扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscope)的工作原理是基于量子力学中的隧道效应。对于经典物理学来说，当一个粒子的动能低于前方势垒的高度时，他不可能越过此势垒，即透射系数等于零，粒子将完全被弹回。而按照量子力学的计算，在一般情况下，其透射系数不等于零，也就是说，粒子可以穿过比它能量更高的势垒(如右图)，这个现象称为隧道效应。隧道效应是由于粒子的波动性而引起的，只有在一定的条件下，隧道效应才会显著。经计算，透射系数为： 由式(1)可见，与势垒宽度，能量差以及粒子的质量有着很敏感的关系。随着势垒厚(宽)度的增加，将指数衰减，因此在一般的宏观实验中，很难观察到粒子隧穿势垒的现象。 扫描隧道显微镜的基本原理是将原子线度的极细探针和被研究物质的表面作为两个电极，当样品与针尖的距离非常接近 (通常小于1nm) 时，在外加电场的作用下，电子会穿过两个电极之间的势垒流向另一电极。隧道电流是电子波函数重叠的量度，与针尖和样品之间距离以及平均功函数有关： 式中是加在针尖和样品之间的偏置电压，平均功函数，和分别为针尖和样品的功函数，为常数，在真空条件下约等于1。隧道探针一般采用直径小于1nm的细金属丝，如钨丝、铂-铱丝等，被观测样品应具有一定的导电性才可以产生隧道电流。 二．扫描隧道显微镜的工作原理 由式(2)可知，隧道电流强度对针尖和样品之间的距离有着指数依赖关系，当距离减小0.1nm，隧道电流即增加约一个数量级。因此，根据隧道电流的变化，我们可以得到样品表面微小的高低起伏变化的信息，如果同时对x，y方向进行扫描，就可以直接得到三维的样品表面形貌图，这就是扫描隧道显微镜的工作原理。 扫描隧道显微镜主要有两种扫描模式：恒电流模式和恒高度模式。 a) 恒电流模式。如图(a)所示， x、y方向进行扫描，在z方向加上电子反馈系统，初始隧道电流为一恒定值，当样品表面凸起时，针尖就向后退；反之，样品表面凹进时，反馈系统就使针尖向前移动，以控制隧道电流的恒定。将针尖在样品表面扫描时的运动轨迹在记录纸或荧光屏上显示出来，就得到了样品表面的态密度的分布或原子排列的图象。此模式可用来观察表面形貌起伏较大的样品，而且可以通过加在z方向上驱动的电压值推算表面起伏高度的数值。 b) 恒高度模式。如图(b)所示，在扫描过程中保持针尖的高度不变，通过记录隧道电流的变化来得到样品的表面形貌信息。这种模式通常用来测量表面形貌起伏不大的样品。 [实验仪器和样品] 针尖 用电化学腐蚀法制备的