液晶光电特性试验量测系统.DOC

液晶光電特性實驗量測系統 前言 光電量測系統的自動化可以方便控制所需的電壓以及擷取訊 號，使原本需要很長時間的實驗可以縮短，利用已知的TN 型液晶與Homogeneous型液晶來檢測系統是否完整與正確，並且瞭解到光在液晶中的光學特性。 量測原理 液晶分子具有改變光偏振的特性，因此將液晶薄膜置於兩片線性偏振片之間，利用偏振光的透出與阻擋，而能製作出光開關的元件。 而液晶分子亦可接受電場驅動而改變排列方向，進而影響了改變光偏振的能力。 所以可以利用外加電壓控制光的開關，此即液晶薄膜的電光特性之一。 TN型 (a) 電壓OFF，光透過（亮） (b) 電壓ON，光遮蔽（暗） Homogeneous型 系統設置 光學板，He-Ne 雷射，線偏振片×2，光衰減片，樣本架，光偵測器，示波器(或電錶)，波形產生器。 光學元件支撐器、棒與座(若干個) ，雷射架，偏振片旋轉座×2。 BNC線(若干條) ，BNC轉雙鱷魚夾線、BNC1對2轉接頭 量測結果 液晶薄膜為扭曲配向，而前後偏振片相互垂直，此稱做正常白(NormallyWhite, NW)模式。 慢慢增加波形產生器電壓，從示波器中可以觀察到光偵測器的電壓慢慢降低，表示光被阻擋住而形成暗態。 液晶薄膜為扭曲配向，而前後偏振片相互平行，此稱做正常黑(Normally Black,NB)模式。 慢慢增加波形產生器電壓，從示波器中可以觀察到光偵測器的電壓慢慢增加，表示光穿透而出形成亮態。 液晶薄膜為平行配向，而前後偏振片相互平行，且前偏振片之偏振軸與液晶配向方向夾角為45°。 慢慢增加波形產生器電壓，從示波器中可以觀察到光偵測器的電壓快速高低震盪，最終降至低點，表示光束被快速開關而最終達到暗態。