晶体阻抗计频率测量误差的不确定度评定-144.docVIP

晶体阻抗计频率测量误差的 不确定度评定 1 概述 1.1 测量依据：JJF 1127-2004《射频阻抗材料分析仪校准规范》 1.2 环境条件：环境温度(10~30)℃内任一点，检定期间该点温度波动不应超过±2℃，相对湿度≤80%。 1.3 测量标准：高稳定石英晶体频率标准，最大允许误差±1×10-8。 1.4 被测对象：CS-100晶体阻抗计10MHz点频率值，最大允许误差±5×10-6。 1.5 测量方法：采用直接测量法。将被检晶体阻抗计输入端连接到石英晶体频率标准输出端进行直接测量，测量分辨力选在最高，闸门时间选择10s。 1.6 评定结果的使用：符合上述条件在频率10MHz点的测量结果，可使用本不确定度评定结果，其他测量点的不确定度可采用本评定方法。 2 数学模型 δ=Fi-Fs+ΔFi +ΔFs 式中：δ——被检晶体阻抗计频率测量的示值误差； Fi——被检晶体阻抗计的频率示值； Fs——石英晶体频率标准实际值； ΔFi——被检晶体阻抗计的基本误差、老化率、频率波动及分辨力等，对测量的影响。 ΔFs——石英晶体频率标准的基本误差、老化率、频率波动对测量的影响。 3 输入量标准不确定度的评定 3.1 输入量Fi的标准不确定度u(Fi)的评定(A类) 输入量Fi的标准不确定度主要来自被检频率计的测量不重复性，可以通过连续测量得到测量列，采用A类方法进行评定。 对石英晶体频率标准，输出频率10MHz，连续测量10次，用被检晶体阻抗计作重复性测试，得到测量列：10.000001MHz，10.000001MHz，10.000001MHz，10.000001MHz，10.000002MHz，10.000002MHz，10.000002MHz，10.000002MHz， 10.000002MHz，10.000002MHz。 10.0000016MHz，0Hz 由于是单次测量，即 u()=s=0.52Hz 自由度veff=10-1=9 3.2 输入量Fs的标准不确定度u(Fs)的评定(A类) 因石英晶体频率标准稳定度比被检频率计高出2个量级，故其对测量结果的影响可以忽略。 3.3 输入量ΔFi的标准不确定度u(ΔFi)的评定(B类) 被检晶体阻抗计的基本误差(稳定度)、老化率等引起的不确定度已包含在重复性条件下所得的测量列的分散性中，故在此只分析分辨力引起的测量误差。被检晶体阻抗计在测量10MHz时只能显示到最小1Hz的分辨率，因此包含了±0.5Hz的误差。按均匀分布，取包含因子k=，则u(ΔFi)=a/k=0.5/=0.29Hz。 估计|δu(ΔFi) / u(ΔFi)|为0.1，则自由度为50。 3.4 输入量ΔFs的标准不确定度u(ΔFs)的评定(B类) 输入量ΔFs的标准不确定度主要来自石英晶体频率标准频率的不确定度，可根据技术说明书给出的示值误差限来评定。根据石英晶体频率标准的说明书，频率值的不确定度为1×10-8，故测量10MHz时，e=±(1×10-8×10×106)Hz=±0.1Hz。按均匀分布，取包含因子k=，则u(ΔFs)=a/k=0.1Hz/=0.06Hz 估计|δu(ΔFs) / u(ΔFs)|为0.1，则自由度为50。 B类分量合成： 有效自由度为 4 合成标准不确定度的评定 4.1 灵敏系数 数学模型 δ=Fi-Fs+ΔFi+ΔFs 灵敏系数 ， ， 4.2 标准不确定度汇总于下表。 u(xi) 不确定度来源 标准不确定度分量u(xi) ci |ci|u(xi) vi u(Fi) 被检晶体阻抗计测量不重复性 0.52Hz 1 0.52Hz 9 u(ΔFi) 被检晶体阻抗计分辨力 0.29Hz 1 0.29Hz 50 u(ΔFs) 石英晶体频率标准不确定度 0.06Hz 1 0.06Hz 50 4.3 合成标准不确定度的计算 输入量Fi、Fs、ΔFi、ΔFs彼此独立不相关，所以合成不确定度可按下式得到 4.4 合成标准不确定度的有效自由度 5 扩展不确定度的确定 取置信概率p=95%，按有效自由度veff=15查出t分布表得 kp=t95(15)=2.13 扩展不确定度 U95=t95(15)×=2.13×0.598Hz=1.27Hz Urel95=1.27×10-7 6 测量不确定度的报告与表示 晶体阻抗计在10MHz测量误差的扩展不确定度为 Urel95=1.27×10-7，veff=15 评定人：