四川理工学院 材料现代分析历届考试复习题.docVIP

四川理工学院试卷（2010至2011学年第2学期） 课程名称： 材料现代分析方法 命题教师： 唐杰 适用班级： 材料08级；高分子08级 考试 200 年 月 日 共 4 页 题号 一 二 三 四 五 六 七 八 总分 评阅（统分）教师 得分 注意事项： 满分100分。要求卷面整洁、字迹工整、无错别字。 考生必须将姓名、班级、学号完整、准确、清楚地填写在试卷规定的地方，否则视为废卷。 考生必须在签到单上签到，若出现遗漏，后果自负。 如有答题纸，答案请全部写在答题纸上，否则不给分；考完请将试卷和答题卷分别一同交回，否则不给分。 试 题 得分 评阅教师 一、填空（20分，每空1分） 1．由En=-Z2R/n2可知：主量子数n值越大，则原子轨道能量越高；主量子数n值越大，相邻原子轨道能量差越小；具有相同主量子数n的原子轨道，原子序数Z越大，则原子轨道能量越低；其中里得伯常数R为13.6eV。 2 X射线频率为3×1014~3×1010MHz，对应于原子内层轨道能级跃迁。红外线频率为4.0×108~6.0×106 MHz，对应于分子振动能级跃迁。 3量子数n, l, m共同表征电子的轨道运动，而s, ms表征电子的自旋运动。 4干涉指数是对晶面空间方位与晶面间距的标识，所表示的晶面不一定是晶体的真实原子面。 5 与某一晶向[uvw]平行的所有（HKL）晶面属于同一晶带，称为[uvw]晶带。 6 共振线是指电子在基态与任一激发态之间直接跃迁所产生的谱线。 7各种分析方法的分析检测过程均可大体分为信号发生，信号检测，信号处理及信号读出等几个步骤。 8 X射线衍射分析法用于材料结构分析，X射线荧光分析法用于材料成分分析。 9电子显微分析方法以材料微观形貌，结构与成分分析为基本目的。 10电子探针（EPA或EPMA）的技术基础与X射线荧光光谱分析相似，主要区别是以电子束代替X光子为激发源。 第1页 得分 评阅教师 二、判断（10分，每小题1分） 1费米能级是材料中电子的一个真实能级。(X) 2只有偶极矩发生改变的分子振动才能产生红外吸收。(V) 3 在X射线源与样品之间放置特定材料薄片以吸收Kβ射线从而保证Kα射线纯度，称为滤波。 (V) 4 对于多相物质，其衍射花样由各组成相的衍射花样干涉叠加而成。(X) 5扫描电镜作表面形貌观测时是收集二次电子成像的。(V) 6 透射电子显微镜配置选区电子衍射装置，使得薄膜样品的结构分析与形貌观察有机结合，是X射线衍射无法比拟的优点。(V) 7 二维倒易点阵阵点在垂直于点阵平面的方向上延伸为连续直线，称为倒易杆。(V) 8 原子光谱分析仪中的原子化器的作用是把样品原子汽化为单个原子，并将其外层电子激发到高能态。(V) 9 像衬度是图像上不同区域间明暗程度的差别。(V) 10色谱分析法具有能解决那些物理常数相近、化学性质相似的同系物、异构体等复杂组成混合物分析问题的特点。(V) 得分 评阅教师 三、简答（20分，每题5分） 1.指出光谱项nMLJ中各字母的意义和M与J之间的关系。 答：n：主量子数；L：总角量子数；J：内量子数（或总量子数）；M：谱线多重性符号。M为J的取值个数。 2．简述倒易阵点与正点阵晶面的对应关系。 答：正点阵中每一（HKL）对应一个倒易点，该倒易点的倒易坐标即为HKL；反之，一个阵点指数为HKL的倒易点对应于正点阵中的一组（HKL）晶面，（HKL）的方位与晶面间距由倒易点相应的r*HKL决定。 3. 简述“布拉格方程只是衍射产生的必要条件”的含义。 答：此话包含两个意思 ：一是在非反射方向上，可能存在干涉部分加强而形成的较弱的衍射线。二是在满足“选择反射”条件的方向上也不一定有反射线(衍射线)存在。 4.衍射花样指数标定。 答：即确定衍射花样中各线条相应晶面的干涉指数，并以之标识衍射线条，又称为衍射花样指数化。 第2页 得分 评阅教师 四、选择你认为合适的分析方法。（10分，每小题1分，选答一种即可） 1．钢液中的Mn, S, P等元素的快速定量分析。（AES） 2．区别FeO, Fe2O3和Fe3O4。( XRD) 3．测定Ag的点阵常数。( XRD) 4．黄金制品含金量的无损检测。 5．淬火钢中残留奥氏体质量分数的测定。( XRD) 6．固体表面元素定性及定量分析。(AXP) 7．几种高聚物组成的混合物的定性定量分析。(GC-MS) 8．镍铬合金钢回火脆断口晶界上微量元素锑的分布。(AP-FIM) 9．淬火钢中孪晶马氏体与位错马氏体的形貌观察。(SEM) 10．推断分子式C8H10O的化合物结构。(UV) 得分 评阅教