无损检测人员复试 专题三 特种设备无损检测仪器设备校准或核查的探讨(谢常欢).pptVIP

磁场指示器 磁悬液指示灵敏度 设备类型 永久磁铁和电磁轭 提升力重力试块 （用于检查磁力强度） JB4730.4 45N、177N、118N 磁场方向 建议最长 校准/校验间隔 每次检测前 2年 每次检测前 知名制造商的合格证 使用符合相关标准的灵敏度 试片 JB/T 4730.4 3.3.2 校准/校验的工艺或指南以 及所需要的设备 通过测量提升力或拉脱力检 查是否符合相关标准 半年 采用合适的秤重天平校准 使用磁场指示器检查磁场方 向符合相关的标准 最初 3个月 JB/T 4730.4 3.9.1 检测前 使用白光照度计检查照明强 度 每次检测前 非荧光渗透检测 （在检测表面检查白光照度） 使用黑光幅照计检查黑光幅 照度 每次检测前 JB/T 4730.5 3.3.2 检测前 荧光渗透检测 （在检测表面检查黑光辐照度） 符合相关标准的制造商合格 证书 每次检测前 渗透检测剂 校准/校验的工艺或指南以 及所需要的设备 建议最长 校准/校验间隔 设备类型 3、PT检测 校准要求 JB/T 4730.5 3.3.1 检测前 JB/T 4730.5 5.8.3 检测前 第39页 与作参考标准的白光照度计 对比检查 1个月 白光照度计 （在工作中使用） 有资格的校准机构 1年 1年 JB/T 4730.5 白光照度计 （作为参考标准表使用） 与作参考标准的黑光幅照计 对比检查 1个月 黑光幅照计 （在工作中使用） 有资格的校准机构 1年 1年 JB/T 4730.5 黑光幅照计 （作为参考标准表使用） 校准/校验的工艺或指南以 及所需要的设备 建议最长 校准/校验间隔 设备类型 制造商的合格证，或使用适 当的检查方法 最初 r射线曝光量计算器 有衰减图及尺寸记录的档 案，制造商的合格证 最初 放射同位素 BS2600：1983图2和A.8条 款或相关标准 每次检测前 几何不清晰度（当标准有要求时） 按HOKLAS003 之5.6.H（d 条款定义的有资格的校准机 构 10年 针空板（当标准有要求时） （用于检查焦点尺寸） 检查焦点尺寸符合相关的标 准 1年 X射线设备 校准/校验的工艺或指南以 及所需要的设备 建议最长 校准/校验间隔 设备类型 4、RT检测 校准要求 ） 第39页 使用黑度计或黑度片检查黑 度，通过IQI确认底片的影 像质量 每次评片前 射线底片 （胶片处理之后） 胶片处理符合胶片制造商推 荐的方法 每次使用后 射线胶片 （胶片的处理） 符合相关标准的分级 最初 射线胶片 （分级和使用） 符合相关标准的制造商合格 证 最初 像质计（IQI） 检查每批样品未曝光的灰雾 度 最初 射线底片 （每批） 校准/校验的工艺或指南以 及所需要的设备 建议最长 校准/校验间隔 设备类型 放射管理局（Radiation Board）认可的实验室 1年 射线剂量计 强制检定 - 贸易/安全/医疗/ 知名制造商的合格证 JB/T 4730.2 B 2.6 2年 5年 标准黑度片 （作为参考标准） 按照标准黑度片校准 6个月 1个月 JB/T 4730.2 3.4.2 黑度计 校准/校验的工艺或指南以 及所需要的设备 建议最长 校准/校验间隔 设备类型 （二）无损检测仪器设备的校准与核查的要求 为了规范无损检测仪器设备的校准与核查的要求，笔者利用参与中国合格 评定国家认可委员会CNAS CL14：2010《检测实验室能力认可准则在无 损检测领域的应用说明》修改的机会，在CNAS CL14：2010中提出了附 录A“无损检测仪器设备校准或核查要求”：谢常欢 无损检测3级人员 复试讲课稿\CL14 实验室 认可准则在无损检测领域的应用说明.pdf 第40页 方法参照JB/T 4730.2附录B要求。 （ JB/T 4730.2 3.4.2） A.1.3 标准密度片每2年，应进行校准（或内部校准），方法参照JJG 452-1986《黑白标准密度片检定规程》。 （ JB/T 4730.2 B.2.6） A.1.4 个人剂量计、剂量报警仪应按照相关的国家计量检定规程的要求送 计量检定机构检定 。 A.1.5 观片灯的亮度和均匀度，应每年进行核查或校准。 （应满足：黑度D≤2.5时，透过底片的亮度应不低于30cd/m2 ；黑度D＞2.5时，透过底片的 亮度应不低于10cd/m2 ；黑度D＞4.0时，如有计量检定报告证明透过底片的亮度满足要求， 允许评片）。 （JB/T 4730.2 4.10.3 ； 4.11.2 ） HK:1月 HK:5年有效 HK:1年 EN:定期 CNAS CL14：2010《检测实验室能力认可准则在无损检测领域的应用说