瓷片电容-SMD贴片电容检验标准.docVIP

深圳市好礼来电子产品厂 頁 數 第 1 頁 共 3 頁 工 作 文 件 生效日期 分 發 號 文件名 瓷片電容/SMD貼片電容檢驗標準 文件編號 版本狀態 A 目的 為深圳市好礼来电子产品厂所使用的瓷片電容/SMD貼片電容提供檢驗依據. 適用范圍 僅適用于深圳市好礼来电子产品厂所使用的瓷片電容/SMD貼片電容. 參考資料 《中華人民共和國行業標準---電容器》 抽樣水准 按MIL-STD-105E正常單次(Ⅱ)抽樣計劃進行抽樣: CRI:0 MAJ:0.65 MIN:1.0 (如客戶有要求按客戶要求) 5.0 所需工具 電容測試儀(L.C.R儀)一台 電流表一塊 電壓表一塊 可調直流穩壓源一台 30W烙鐵一把 6.0 檢驗方法 6.1 外觀檢驗 6.1.1 引腳是否氧化、生鏽、脫落、過短. 6.1.2 主體是否變形、破損、破裂. 6.1.3 字跡模糊或標識不清. 6.1.4 用手指或棉簽沾酒精輕輕擦試主體字符是否會脫落. 6.1.5 SMD貼片電容需置于20倍顯微鏡下觀察不能有裂痕. 6.2 容量測量 用電容測試儀(L.C.R儀)【測試頻率為1KHZ,測試電壓為1.0V】對其進行 容量測量,其容量應誤差范圍內.. 注#:中括號內要求只有在使用L.C.R儀測試時才參照 編制 審批 日期 日期 深圳市好礼来电子产品厂 頁 數 第 2 頁 共 3 頁 工 作 文 件 生效日期 分 發 號 文件名 瓷片電容SMD貼片電容檢驗標準 文件編號 版本狀態 A 附: 電容容量誤差字母表示 F表示±1% J表示±5% M表示±20% Z表示(+80,-20)% 6.3漏電流測試 將被測電容按下圖串入線路中,將直流電壓調至與電容耐壓相等,此時μA表 的顯示應小于0.1μA. 6.4 耐壓測試 將被測電容按上圖串入線路中,將直流電壓調至與電容耐壓相等,對其進行連 續充電12小時,不能出現冒湮、變黑、異味、裂開、短路、開路等現象. 6.5 高低溫測試: 將在常溫下測試容量、漏電均正常的電容放入-10℃的溫度中2小時.然后用 30W烙鐵對其進行加熱3秒,再測試容量,漏電是否合格.如此連續反復3次高 低溫試驗,其容量,漏電應正常. 6.6 吃錫試驗: 用30W烙鐵對兩焊點做吃錫試驗,3秒內應吃錫良好. 7.0 檢驗標准: 序號 檢驗項目 品 質 要 求 判定 CRI MAJ MIN 編制 審批 日期 日期 深圳市好礼来电子产品厂 頁 數 第 3 頁 共 3 頁 工 作 文 件 生效日期 分 發 號 文件名 瓷片電容SMD貼片電容檢驗標準 文件編號 版本狀態 A 序號 檢驗項目 品 質 要 求 判定 CRI MAJ MIN 7.1 外觀 引腳氧化、生鏽、脫落、過短. ※ 主體變形、破損、破裂. ※ 字跡模糊或標識不清. ※ 用手指或棉簽沾酒精輕輕擦試主體字符會脫落. ※ SMD貼片電容需置于20倍顯微鏡下觀察有裂痕. ※ 7.2 容量 容量大小超出充許誤差范圍 ※ 7.3 漏電 漏電流超出充許誤差范圍 ※ 7.4 高低溫 容量超出誤差范圍 ※ 漏電流超出誤差范圍 ※ 外觀有破裂,破損 ※ 7.5 吃錫 不吃錫或吃錫不夠 ※ 外觀有破裂,