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微奈米量测技术透射电子显微镜tem
微奈米量測技術: 透射電子顯微鏡 (TEM) 授課教師:朱志良 班級:碩研機械一甲 學號:MA010221 姓名:黃賢政 自1936年第一台商用電子顯微鏡於英國建立以來，穿透是點子顯微鏡(TEM)不斷地進步與突破，其重要指標就在於影像解析度。隨著高壓設備之成熟技術發展與建立，一百萬伏特(volts)以上支超高壓穿透式電子顯微鏡也問世。因此原子級的影像解析度早已不再是遙不可及之夢想。 1電子源:由陰極和陽極組成。陰極是烏絲線，被加熱時便會發出電子。一個帶負電壓的蓋子把電子稍為聚焦，成為電子束(如下圖)。 2電磁透鏡系統:離開了電子源以後，電子束便被電磁透鏡系統及金屬孔徑精確地聚焦(如下圖)。 3樣本架:是一個裝有機械臂的平台，用以乘載樣本和控制它的位置(如下圖)。 4成像系統:透射電子顯微鏡的成像系統由另外一組電磁透鏡系統和屏幕組成。 透射電子顯微鏡(Transmission electron microscopyTEM)，是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關，因此可以形成明暗不同的影像。 參考文獻: 清華大學博士 羅盛全.tw/AD/ADImages/%E5%BB%A3%E5%91%8A/MCLM100/download/equipment/EM/FE-TEM/FE-TEM010.pdf 原子世界透射電子顯微鏡 透射電子顯微鏡的基本原理 /atomic_world/tem/tem02_c.html 百度知道 教育/科学 理工学科 工程技术科学 /question/187196863.html?an=0si=1wtp=wk
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