3-稀土发光材料的制备化学.ppt

透视电镜 透射电镜的作用 (a)利用质厚衬度(又称吸收衬度)像，对样品进行一般形貌观察； (b)利用电子衍射、微区电子衍射、会聚束电子衍射物等技术对样品进行物相分析，从而确定材料的物相、晶系，甚至空间群； (c)利用高分辨电子显微术可以直接“看”到晶体中原子或原子团在特定方向上的结构投影这一特点，确定晶体结构； (d)利用衍衬像和高分辨电子显微像技术，观察晶体中存在的结构缺陷，确定缺陷的种类、估算缺陷密度； (e)利用TEM所附加的能量色散X射线谱仪或电子能量损失谱仪对样品的微区化学成分进行分析； (f)利用带有扫描附件和能量色散X射线谱仪的TEM，或者利用带有图像过滤器的TEM，对样品中的元素分布进行分析，确定样品中是否有成分偏析。 硫化铋纳米棒的透射电镜图 （2） 扫描电子显微镜（SEM） 电子束轰击样品上某个点，产生次级电子，如二次电子、背散电子及阴极射线荧光辐射等。二次电子能量低（E＜50eV），区域小，主要是样品近表面几个纳米薄层内和电子入射点横向近距离内。故二次电子像的分辨率较高；二次电子产率与样品表面形态有密切关系，所以二次电子像能很好反映样品表面形貌；阴极射线荧光转换成电信号，可以形成样品的阴极射线荧光像。荧光信号通过光学系统与光谱仪连接可进行光谱分析，与电子束感生电流结合可进行材料晶格缺陷与发光特性研究。 扫描电镜 扫描电镜的作用 (a）力学加载下的微观动态 （裂纹扩展）研究 ； (b) 加热件下的晶体合成、气化、聚合反应等研究 ； (c)晶体生长机理、生长台阶、缺陷与位错的研究 ； (d)成分的非均匀性、壳芯结构、包裹结构的研究 ； (e)晶粒相成分在化学环境下差异性的研究等 ； (f)纳米尺寸的研究 ； (g)元素的定性和定量分析 等 用气体氮化还原法制备得到的Sr2Si5N8:Eu2+荧光粉的SEM 陶瓷粉体制备工艺 特定工艺 特定形貌和粒径 有机物辅助 固相反应 共沉淀法 均相沉淀法 甘氨酸－ 硝酸盐法 （3） 其他显微技术应用 扫描隧道显微镜（STM），用以测量样品表面原子结构形貌，分辨率高；原子力显微镜（AFM）主要用来研究绝缘体、导体和半导体。此外，高分辨率电子显微镜（HREM）可以观察到原子的尺寸、局部结构变化，如各位占有率或空位等。 显微镜适应的波长范围 下图是用于发光材料结构或形貌尺寸测量表征的几种显微技术。 （4）工业粒度的测定：激光粒度仪 原理：利用颗粒对光的散射现象，根据散射光能的分布推算被测颗粒的粒度分布。通过对光学、机械、电子、计算机等系统的整合和优化实现了颗粒测量的重复性好，动态范围大，操作简单方便。?? 粉体粒径的分布（列表法与图示法） ? 比表面属于粉体的一种综合性质，是由单颗粒性质和粉体性质共同决定的。 粉体的比表面是粉末的平均粒度、颗粒形状和颗粒密度的函数,能给人以直观、明确的概念 比表面与粉体的许多物理、化学性质， 如吸附、溶解速度、烧结活性等直接相关 质量比表面积Sw：1g质量的粉体所具有的总表面积， 用m2/g 或 cm2/g表示 体积比表面积Sv：即颗粒总表面积/颗粒总体积， 单位是m2/cm3 ? （5）粉体的比表面及其测定 比表面是代表粉体粒度的一个单质参数，同平均粒度一样，所以用比表面法测定粉末的平均粒度称为单值法，以与分布法相区别。 1969年国际会议推荐的比表面积测定方法共有：气体容量吸附法、气体质量吸附法、气体或液体透过法、液体或液相吸附法、润湿热法及尺寸效应法等。通常采用的是吸附法和透过法。 利用尺寸效应----根据粉体粒度组成和形状因子计算比表面的一种方法。 勃氏法测试粉体比表面积 原理：根据一定量的空气，通过具有一定空隙率和固定厚度的粉层时，所受阻力不同而引起流速的变化来测定粉的比表面积。在一定空隙率的水泥层中，空隙的大小和数量是颗粒尺寸的函数，同时也决定了通过粉的气流速度 。 化学法合成YSZ晶粒尺寸 灼烧温度 （0C） 晶粒尺寸 L/nm 比表面积S(m2/g) 计算粒径 D/nm 500 3.4 163.2 6.17 600 5.5 90.7 11.1 900 12.2 26.7 37.8 ? 3.2.5粉体成分分析 化学分析法：根据物质间相互的化学作用，如中和、沉淀、络合、氧化还原等测定物质含量和鉴定元素的方法。准确可靠，但是耗时，有限制 特征X射线分析法，基本原理是用电子探针照射在试样待测表面的微小区域，激发试样中各元素的不同波长的特征X射线，然后根据射线波长或者能量进行元素定性分析，根据强度进行定量分