公示技术参数.doc

进口设备参数 1.三维表面形貌仪 序号 名称 技术要求 数量 1 三维表面形貌仪，主要组成部分需包含三维表面形貌仪主机，防震台，光学测量探头，控制器，光学传感器，计算机，三维数据采集软件，三维数据分析处理软件，样品夹具，标准样品等。 ，该设备需要至少具有以下基本功能： 1）采用共聚焦技术，可测量大尺寸平面，曲面，球面，异形面等高坡度样品的一维，二维，三维表面微观形貌。 2）测量大尺寸样品表面，无需进行图像拼接。 3）测量样品上任意测量点的三维坐标。 4）测量透明，半透明，低反射率（黑色样品），抛光样品表面形貌。 5）测量一维、二维表面粗糙度、平整度、波纹度、台阶高度、孔洞深度、长度等，宽度面积与体等参数。 6）测量透明薄膜任意测量点的厚度。 ，主要技术参数： 1）XY方向单次扫描范围：50*150mm，一次扫描完成，无需进行图像拼接。 2）XY方向最小扫描步长：0.1μm 3) 扫描速度：0mm/s 4) 载重：Kg 5) Z方向允许样品的最大高度：不小于150mm 3.2 大范围光学测量探头技术参数： 1) Z方向测量范围：3mm 2) Z方向测量分辨率：nm 3）横向光学分辨率：不小于2.6μm 4)工作距离：16.4mm 5)最大测量坡度：85° 3.3 另配单独试件宏观形貌图像采集装置，性能不低于5D Mark III（24-105mm）。 6，数据采集软件： 1）背景噪声计算 2）实时采集每个测量点的三维坐标 3）可自行设置扫描范围，扫描步长，扫面方式，扫描速度参数 4）自动计算测量时间 5）精确定位扫描区域 6）能够实时显示一维，二维，三维表面形貌 7）自动控制工作台移动 8）自动测量任意两点距离 7，三维数据分析处理软： 1）自动调平功能 2）创建任意区域的2D曲线图或2D等高线分布图 3）创建任意区域的3D图像 4）计算一维线粗糙度参数（Ra,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Rq,Rsk,Rku），二维面粗糙度（Sa,Sp,Sq,Sv,Sz,Ssk,Sku），平整度，波纹度，长度，宽度，角度，深度，面 积，体积 5）自动校准功能 6）测量功率谱密度 7）显示数据分布直方图 8）数据分层统计 9）多种格式的图像与数据输出。 8, 5760×1440dpi，扫描光学分辨率不低于1200×2400dpi)。 9，安装培训：厂商负责安装，调试及免费技术培训 10，质保期与售后服务 1）质保期：12个月，自仪器验收合格后算起。 2）提供免费终身的技术培训及咨询服务。 3）技术工程师至少每12个月免费上门保养一次。 4）终身为客户免费提供软件升级服务。 5）保修期内，对于因非人为操作失误原因造成的所引起的设备故障和损坏供货方应负责免费维修，保修期外，供货商保证零配件的供应且提供终身维修，收取成本费。 2.多功能自动化测试系统 1 多功能自动化测试系统 8槽高带宽机箱 至少4个混合插槽, 3个PXI Express插槽, 1个PXI Express系统定时插槽 0 °C到55 °C的温度下, 总功率达507 W 高性能 - 每插槽高达1 GB/s的专用带宽和7 GB/s的系统带宽 提供牢固且便携式的显示器与键盘、坚固装运箱和其它附件 与PXI、PXI Express、CompactPCI和CompactPCI Express模块兼容 带240V英式电源线和PXI 8槽便携式箱体 工业级便携式PXI LCD显示器和键盘附件 配备不低于1024 x 768屏幕分辨率的15英寸LCD触摸屏显示器 可拆卸式英语键盘和触控板 通过PXI机箱上的机架式安装孔, 安装该附件 适合与有关的工厂或用户进行安装 VGA视频连接 触摸屏可调整倾斜度 触摸屏与Windows Vista/XP/2000/NT操作系统兼容 适用于8槽PXI和PXI Express机箱 带Disport转VGA线缆 高性能控制器 不低于2.3 GHz四核处理器 (单核Turbo Boost模式下最大3.3 GHz) 高带宽PXI Express嵌入式控制器，具有高达8 GB/s系统带宽和2 GB/s插槽带宽 标准配置为4 GB (1 x 4 GB DIMM) 双通道1,600 MHz DDR3 RAM, 最大为16 GB 至少2个SuperSpeed USB端口、4个高速USB端口、2个千兆以太网端口、GPIB、串口和其他外设 In-ROM内存和硬盘诊断 已安装Windows操作系统和驱动; 基于硬盘的恢复 多功能数据采集卡 至少32路模拟输入通道, 2 MS/s (单通道), 1 MS/s (多通道); 16位分辨率, ±10 V 至少4路模拟输出, 2.86 MS/s, 16位分辨率, ±10 V 至少48条数字I/O线 (其中32