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關 於 N A N O W O R L D ® 納米技術是我們的領域。精度是我們的傳統。 創造是我們的關鍵工具。 因此，我們位於瑞士，歐洲最強大、最創造性的地區之一。 通過應用我們的知識和我們高精確度的探針，我們的顧客在使用掃描探針顯微鏡(SPM)時和 特別在使用原子力顯微鏡(AFM)時能得到最好的結果。 P O I N T P R O B E ® A R R O W ™ P Y R E X - N I T R I D E 主要特點 主要特點 主要特點 • 全世界使用最寬闊的、名譽最好 • 通過針尖視界的最大化可以優 • 氮化硅懸臂和針尖 的SPM、AFM探針 化地定位 • 用於高分辨掃描成像的硅SPM、 • 耐熱Pyrex派熱克斯（硼硅） • 三面針尖由實際晶體平面確定 玻璃做的支架 AFM探針 的 • 在支架上帶調節凹槽 • 可以用於接觸式或動態式不 • 在懸臂的最末端有針尖 同成像應用 • 針尖半徑典型地 8 nm • 保 証 的 12 nm • 針尖半徑典型地 10 nm • 化 削 尖 角 錐 狀 的 探 針 針 尖 • 這種探針有不同形狀的針尖可供 • 保 証 的 15 nm 選擇 • 針尖半徑典型地 10 nm • 這 種 探 針 有 三 角 形 的 和 長 方 形 的 可 供 選 擇 P O I N T P R O B E ® 硅 A F M 探 針 全世界使用最寬闊的、名譽最好的、質量高的 SPM、AFM探針 Pointprobe® 針尖 (標准) ® 標准Pointprobe 探針的形狀是多邊棱錐體的。 探針的宏觀半錐角沿著懸臂軸為 20°至25°；從側面看為25°至30°；在針尖 的最末端部事實上為零度 。 Pointprobe® 探針高度為 10 – 15 µm，針尖半徑典型地 比 8 nm 好 (比保証的12 nm小) 。 概況 ® Pointprobe 針尖 • 用於高分辨掃描成像的SPM、AFM探針 • 適合於所有著名商業SPM和AFM • 單晶硅支架支撐著懸臂和針尖 • 支架、懸