培训讲义三原子吸收的干扰.ppt

Draft AA分析的干扰 A. 光谱干扰 B. 蒸发干扰 C. 电离干扰 D. 基体干扰 E. 背景吸收 A. 谱线干扰 1. 干擾物與分析物之譜線重疊 2. 分析物譜線包含於干擾分子寬譜線中 解決方法 : 1. 减少狭缝宽度 2. 应用其他的光谱线 3. 采用化学分离 光谱线的重叠干扰 在原子吸收分析条件下，产生的发射和吸收线较少，常用的分析线更少。分析元素实际常用的最灵敏线之间基本无谱线干扰。 （1）吸收线干扰 大量实验表明，已观察到的吸收线干扰有13对： (2). 发射线干扰 目前空心阴极灯的选材已经成熟；倒线色散均优于20A/mm,只要选取小于2A的通带，一般可消除光源中的发射干扰。 高温原子化器中，燃烧产物或石墨炉体的热辐射带状分子发射光谱等均会叠加在特征分析线上。通常采用调制光源供电方式，配合相敏检波和相应滤波手段，以消除原子化器中的直流辐射干扰。 B. 蒸发干扰 部份樣品產生改變揮發速率之鹽類，或干擾物與分析物產生不易裂解之熱穩定物質， 使分析物未完全成為自由原子。 解決方法： 1. 增加火焰温度 2. 加入化学释放剂 3. 加入保护性试剂 4. 化学分离 C. 离子化干扰 分析物因其电离能很低，在火焰中極易離子化，造成灵敏度降低。 解決方法： 加入大量（100倍以上）更容易離子化元素，例如 Na, K, Cs, Sr.. 來抑制分析物游離。 如: C2H2/Air 測 Ba 加入 2000 至 5000 ppm 之KCl D. 基体干扰 霧化過程若測試樣品與標準樣品溶液之黏稠性或表面張力不同，而造成提升速率或霧化效率不同。 解決方法： 1.使測試樣品與標準樣品溶液之成分條件愈接近愈好。於樣品前處理時加入酸或是其 他試藥時，也需同時加入近似濃度於準樣品溶液中。 2 標準添加法 ( Standard Addition Method ) E. 背景吸收 当元素灯所发出的特征谱线被分子或固体颗粒遮挡发生能量衰减时产生的。 这些分子包括金属氧化物、氢分子、 OH和部分溶剂碎片 解決方法： 1. D2 校正 2. Zeeman 校正 背景校正 当原子化温度不足以将基体中的所有分子分解时就可能产 生分子吸收。分子吸收所产生的信号加上原子所产生的信号，就可能产生一较高的虚假 信号。 在火焰法中，背景信号通常在0.05吸光度以下，但对某些类型的样品（特别是在 低紫外波段），背景干扰可能较高。 在石墨炉分析中，背景信号则可能达2.0吸光度以上，背景校正就显得十分重要了。 实践中，如遇到需测量大背景信号中的较小的原子吸收 信号时，我们不提倡直接进行测量（虽然仪器可能具有这种能力），我们可提高加适合 的基体改进剂及合理设置石墨炉干燥、灰化程序来降低背景信号，因高背景信号降低光 通量，降低了信噪比。 背景校正（或称为扣背景），是一种甄别非特征吸收的方法。所有厂家度采用相同的扣 背景原理 ：即将背景吸收从总信号中减去。非特征吸收信号及总信号在数毫秒时间间 隔内被分别测出。然后提高计算得出所要的特征吸收信号值。在石墨炉分析中，信号的 产生及变化速度极快，（每秒可达10个吸光度）。理想的情况是在同一时间测出背景信 号和总信号，但实践中是不可能做到的，但这两个信号的测量在时间上越接近，其准确 性就越好。现在各种仪器的这一时间差在2－10ms之间。 氘灯扣背景 最常用的扣背景方法是采用连续光源，如氘灯来测量背景信号。其波长范围为180到425nm。 因在短波长范围中，背景信号相对较高，该方法覆盖了决大多数高背景发生区。在元素灯工作 周期，元素灯所产生的窄发射谱线被原子及背景物质所共同衰减，所测得的值是总信号；在氘 灯工作周期，氘灯的宽谱线所测得的则是背景信号（此时元素灯所产生的窄谱线原子吸收可忽 略不计），两次测量的差值，即为我们所需的原子吸收信号。 氘灯扣背景 氘灯扣背景方法的优点 灵敏度好 动态线性范围好 费用低 氘灯扣背景方法有以下几方面局限性： ????????? 灯的强度有时不合适。空心阴极灯和氘灯的强度匹配要精心调整（一般需要牺牲元素灯光强，增大通带和高压，以弥补氘灯强度弱的缺点，但噪音将增大） 同时还要控制两种光源的稳定性，调整两光源的光斑要重合 ????????? 不能准确扣除由窄谱线分子吸收而造成的结构背景； ????????? 有时背景校正误差很大； Smith Heiftje （自吸）扣背景 该方法是1983年首先由 Stan Smith 和 Gary Heiftje 提出的。 在其论文中，对这种扣背景方法的工作原理及局限性都有较为详细的论述。这种方法 现在只有TJA和Shimadzu两家公司采用。同时TJA也提高了氘灯扣背景的选项。 当