Q31_0114000670C003铈掺杂硅酸钇闪烁晶体.pdf

上海硅酸盐研究所中试基地企业标准 Q31/0114000670C003 铈掺杂硅酸钇闪烁晶体 2017-10-23 发布 上海硅酸盐研究所中试基地发布 自我承诺 我司编写并公开的Q31/0114000670C003《铈掺杂硅酸钇闪烁晶体》规定的内容符合国家有 关法律法规、强制性标准及相关产业政策的要求，并按照规定程序由企业法人代表批准发布。 我司生产的产品符合本标准规定的各项技术要求，标准编号在相应的产品包装上明示。 我司 对声明公开信息的真实性、准确性、合法性负责，对本标准实施的后果承担全部法律责任。 上海硅酸盐研究所中试基地 2017-10-23 Q31/0114000670C003 技术指标1 指标名称： 外观 指标要求： 包裹体、裂纹、崩边、倒角、颜色应符合本标准要求。 测试方法名称： 无 技术指标2 指标名称： 尺寸公差、平行度和垂直度 指标要求： 应符合用户的需要或图纸要求，且同时满足尺寸公差不 超过±0.2mm，平行度偏差不大于 30″ ，垂直度偏差不 超过 10″。 测试方法名称： 无 技术指标3 指标名称： 表面光洁度、平面度和粗糙度 指标要求： 应符合用户的需要或图纸要求，且同时满足光洁度不低 于 60/40，平面度不差于 λ /2 @663 nm，粗糙度 Ra不 超过 0.04 μ m。 测试方法名称： 无 技术指标4 指标名称： 透过率 指标要求： 透过率应符合本标准要求。 测试方法名称： 无 技术指标5 指标名称： 相对光输出 指标要求： 与参考样品相比，晶体的相对光输出应不小于 90%（使 Q31/0114000670C003 用 137Cs 作为放射源）。 测试方法名称： 无 技术指标6 指标名称： 辐照硬度 指标要求： 辐照硬度应符合本标准要求。 测试方法名称： 无 技术指标7 指标名称： 闪烁衰减时间 指标要求： 应不大于 70 ns（使用 137Cs 作为放射源） 测试方法名称： 无