dcdc buck芯片ate测试中的trim技术研究word格式论文.docx

学位论文原创性声明本人郑重声明：所呈交的学位论文《DC-DCBuck芯片ATE测试中的Trim技术研究》，是本人在导师的指导下，独立进行研究工作所取得的成果。除文中已经注明引用的内容外，本论文不包含任何其他个人或集体已经发表或撰写过的作品成果。对本文的研究做出重要贡献的个人和集体，均已在文中以明确方式标明。本人完全意识到本声明的法律结果由本人承担。学位论文作者签名：日期：年月日学位论文版权使用授权书本学位论文作者完全了解学校有关保留、使用学位论文的规定，同意学校保留并向国家有关部门或机构送交论文的复印件和电子版，允许论文被查阅和借阅。本人授权上海交通大学可以将本学位论文的全部或部分内容编入有关数据库进行检索，可以采用影印、缩印或扫描等复制手段保存和汇编本学位论文。保密□，在年解密后适用本授权书。本学位论文属于不保密□。（请在以上方框内打“√”）学位论文作者签名：指导教师签名：日期：年月日日期：年月日DC-DCBuck芯片ATE测试中的Trim技术研究摘要DC-DCBuck芯片内部的带隙基准电压、参考电压、偏置电流以及振荡器的准确性对芯片的性能有着重要的影响。但是由于半导体制造工艺的影响，芯片内部模块的电压与电流等参数与标准值相比会出现一定的偏差，所以在ATE测试阶段就需要利用trim技术对这些参数进行修调，进而提高芯片的良率。本文在分析了DC-DCBuck芯片的基本结构与工作原理的基础之上，编写芯片测试程序，并重点对trim测试进行研究。对于带隙基准与参考电压修调，提出了一种电阻网络的trim电路结构；对于偏置电流与振荡器修调，提出了多支路的电流镜trim电路结构。首先采用全搜索的算法进行trim测试，即测试每个trimstep所对应的值，找出最接近标准值的trimcode烧写到芯片内部的EEPROM中，但这种算法的测试时间较长。接下来基于全搜索算法编写了一种新颖的自动修调算法，程序可以保存之前测试的值并自动计算出一个trimtable，对于后续芯片的测试只需要测试初始值，根据trimtable就可以算出最佳的trimcode，并且trimtable可以动态更新，保证trimcode的准确性。选取850颗DC-DCBuck芯片进行trim测试,并将全搜索算法与自动修调算法的测试数据进行对比，结果表明，采用自动修调算法后，带隙基准、参考电压、偏置电流与振荡器频率的trim测试时间分别节省了61.8%、79.2%、70.8%与65.4%，并且能够找出准确的trimcode。最后对自动修调算法trim过的芯片进行温度特性分析，验证了这种改进算法的准确性。因此采用自动修调算法进行trim测试，可以在保证准确度的基础之上，大大减少测试成本。关键词：DC-DCBuck,ATE测试,Trim,自动修调算法ITHERESEARCHOFTRIMTECHNOLOGY IN DC-DC BUCKATETESTABSTRACTTheaccuracyofbandgap,referencevoltage,biascurrentandfrequencyisveryimportantintheperformanceofDC-DCBuck.However,becauseofprocessvariationsinsemiconductorfabrication,therearesomedeviationsinparameterssuchasvoltageandcurrentcomparedwiththestandardvalue.SoweneedtotrimtheseparametersinATEtestinordertoincreasetheyieldoftheproduct.ThebasicstructureandoperatingprincipleofDC-DCBuckareanalysedinthepaper.Asforbandgaptrimandvoltagereferencetrim,aresistornetworkcircuitstructureisdescribedandasforbiascurrentandfrequencytrim,acurrentmirrorwithmultiplebrancescircuitstructureisdescribed.Inthepast,analgorithmcalledfullsearchisusedintrimtest.ThisalgorithmneedstotesteachtrimstepandfindthebesttrimcodebeforewritingthecodeintotheEEPROM,whichtakesalotoftime.Inthispaperaninnovativealgorithm