SPC运用手段1.docVIP

東莞主山今上電子廠 品保部培訓教材 教材名稱:SPC運用手法 總頁數:12 版本 編 著 日 期 編 著 者 審 核 者 變 更 原 因 A 2001.3.1 石樂安 石樂安 新發行. 東 莞 主 山 今 上 電 子 厂 SPC的運用手法 一.SPC概念、(1)全系統的,要求全員參加,人人有責.(2)強調用科學方法來保証達到目的. SPC發展簡介 制程管制的概念与實施監控的方法早在20世紀20年代就由美國的休哈特(W.A.Shewhart)提 出在第二次世界大戰后期,美國開始將休哈特方法在軍工部門推行.但由於美國工業過於強大而沒 有競爭對手,於是統計制程管制方法在1950-1980年這一階段內,逐漸從美國工業中消失.反之,戰 后經濟在嚴重破坏的日本在1950年通過休哈特早期的一個同事戴明博士,將SPC的概念引入日 本.從1950年到1980年,經過三十年的努力,日本躍居世界質量与生產率方面的領先地位.美國著名 質量管理專家伯格教授指出,日本成功的基石之一就是SPC. 在日本強有力的競爭下,SPC在西方工業發達國家复興,并列為高科技之一.例如,加拿大鋼 鐵公司在1988年列出的該公司七大高科技方向如下(1)鑄鐵; (2)爐外精鍊鋼包冶金站;(3)真空除气; (4)電鍍鋅流水線; (5)電子測量; (6)高級電子計算机; (7)SPC,其中第七項就是SPC. 美國從20世紀80年代起開始推行SPC.美國汽車工業已大規模推行了SPC,如福特汽車公司. 通用汽車公司,克萊斯勒汽車公司等.今天我們公司正在推行的QS9000質量体系就是這三大汽國 公司長期共同努力的結晶. 二.SPC手法的種類 SPC統計手法最常用种類有P管制圖、X-R、X-R三.P-Chart及X-R管制圖的制作方法 3.0 P-Chart的制作方法: 3.0.1收集數據 確定數據子組的容量,頻率及數量.我廠之P管制圖就是收集一天總抽驗的樣本數和發現的總 不良數.然后計算出不良率,即: 3.0.2計算不合品率(P) 當收集到一個數据子組后,應計算并記錄每個子組內的下列值: 該項目被檢驗的數量--------n 發現的不合格的數量------np 不良率(%)=不良數/樣本數 不合格率:　　　p=np/n 這些數据應記錄在數据表中作為分析研究的基礎. 3.0.3選擇管制圖的坐標刻度,并將不合格品率描點 3.0.4將不合格品率作為縱坐標,子組數量作為橫坐標圖,縱坐標的刻度應從0到分析數据中最大 不合格率的1.5到2倍. 3.0.5將每個子組的不合格品率(P)用藍色或黑色筆點繪在管制圖上,并將這些點用藍色或黑色連 線,以使發現异常圖形和趨勢.當點描完后,粗覽一遍看看它們是否合理,如果任意一點比別 的高出或低出許多,都應檢查計算是否正确. 3.0.6當有制程的變化或者可能影響制程的异常情況出現時,應將它們記錄在管制圖的“原因追查” 部分,以幫助特殊情況的原因分析和糾正,如新員工上崗、人手調換等. 版本:A 版次:01 頁數2 of 12 東 莞 主 山 今 上 電 子 厂 SPC的運用手法 3.1 計算管制限 3.1.1計算平均不合格率(P),即中心線(CL)當數据子組數量達到25或以上時,就可以計算平均不合 格率(P).在分析研究時期,計算平均不合格品率按如下公式進行: P =(n1p1+ n2p2+…+nkPk)/(n1+n2+…+nk)=Σnp/Σn式中: n1p1、n2p2、…為每個子組內的不合格數: n1、n2、…為每個子組的檢查數. 3.1.2計算上、下管制限(UCL 、LCL) 若每個數据子組的樣本容量不超過平均樣本容量的+/-25%, 則可計算上下管制限.在分析研究時期按下式計算上下管制限: 上管制限: UCLp=P + 3 P (1-P)/n 下管制限:LCL=P-3 P(1-P)/n 式中: n 為平均樣本容量, n=Σnk/k在分析研究階段,這些管制限叫做試驗管制限. 注:1.當P很小或n很小時,LCL的計算值有時會為負值,在這种情況下則沒有下管制限. 3.1.3理論上,只要樣本容量改變(即使是一個子組),管制限也隨之改變,對每個具有不同的樣本容量 的子組應分別計算各組的管制限.但實際應用時,當各子組容量与其平均組相