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《系统可测性设计》 第二部分（可测性设计技术）讲义 目 录 1. 概述 1 1.1 故障、诊断及测试性的基本概念 1 1.1.1 故障及其后果 1 1.1.2 故障诊断 3 1.1.3 测试性和机内测试 7 1.1.4 综合诊断 10 1.2 测试性及诊断技术的发展 11 1.2.1 由外部测试到机内测试 11 1.2.2 测试性成为一门独立的学科 12 1.2.2 综合诊断、人工智能及CAD的应用 13 1.2.3 国内测试性发展现状 14 1.3 常用测试性与诊断术语 14 2. 系统测试性设计及其通则 19 2.1 系统测试性设计 19 2.1.1 系统测试性顶层设计 19 2.1.2 系统测试性设计指南 21 2.2 固有测试性设计概述 23 2.2.1 划分 24 2.2.2 功能和结构设计 26 2.2.3 初始化 26 2.2.3 测试控制 28 2.2.5 测试观测 32 2.2.6 元器件选择 33 2.3 测试性设计准则 33 2.3.1 电子功能结构设计 33 2.3.2 电子功能划分 34 2.3.3 测试控制 34 2.3.4 测试通路 34 2.3.5 元器件选择 35 2.3.6 模拟电路设计 35 2.3.7 大规模集成电路、超大规模集成电路和微处理器 36 2.3.8 射频（RF）电路设计 36 2.3.9 数字电路设计 37 2.3.10 机内测试（BIT） 38 2.3.11 性能监控 38 2.3.12 测试要求 39 2.3.13 测试数据 39 2.3.14 测试点 39 2.3.15 传感器 40 2.3.16 指示器 40 2.3.17 连接器 41 2.3.18 兼容性 41 3. BIT设计技术 43 3.1 系统BIT设计 43 3.1.1 系统BIT顶层设计 43 3.1.2 系统BIT设计指南 52 3.2 常用BIT设计技术 53 3.2.1 数字BIT技术 53 3.2.2 模拟BIT技术 65 3.2.3 环绕BIT技术 68 3.2.4 冗余BIT技术 70 3.2.5 动态部件BIT技术 72 3.2.6 功能单元BIT实例 74 3.3 测试点的选择与设置 77 3.3.1 测试点类型 77 3.3.2 测试点要求 78 3.3.2 测试点选择 78 3.3.3 测试点设置举例 79 4．系统级BIT 83 4.1 系统级测试性设计技术 83 4.1.1 系统级测试性需求分析技术 83 4.1.2 系统级测试性方案优化生成技术 83 4.1.3 基于模型的测试与诊断策略构建技术 83 4.1.4 系统级BIT设计技术 84 4.1.5 测试性评估技术 84 4.2 系统级BIT的主要方法和技术途径 84 4.2.1 系统级BIT体系结构 84 4.2.2 主要采用的研究方法 85 4.2.2 实现的技术途径 85 4.3 一种普适的系统级BIT架构方案 88 4.3.1 测试性设计要求 88 4.3.2 一种普适的数字通信系统模型 90 4.3.3 数字通信系统FMECA 91 4.4 测试性分配 99 4.4.1 概述 99 4.4.2 等值分配法和经验分配法 102 4.4.3 按系统组成单元的故障率分配法 103 4.4.4 加权分配法 104 4.4.5 分配方法优化简介 106 5．测试性验证技术 113 5.1 测试性验证概述 113 5.1.1 测试性验证试验类型及发展趋势 113 5.1.2 故障样本选取 117 5.1.3 故障注入 120 5.1.4 测试性评估 123 5.2 测试性验证试验风险与评估精度、置信度建模分析 124 5.2.1 测试性验证试验风险建模与分析 125 5.2.2 测试性评估精度和置信度建模与分析 129 5.3 测试性验证试验故障样本优化选取方法 135 5.3.1 测试性验证试验故障样本优化选取总体技术思路 135 5.3.2 基于研制阶段先验信息的优化抽样方案确定方法 136 5.3.3 分层故障样本量分配随机抽样误差分析及故障率估计方法 145 5.3.4 基于距离模型的故障样本集评估优选方法 152 5.3.5 小结 163 5.4 故障注入方法与故障注入策略优化设计 164 5.4.1 测试性验证试验故障注入有效性分析 164 5.4.2 故障传递特性分析与量化 171 5.4.3 基于故障传递特性的位置不可访问故障注入方法 175 5.4.4 基于相关等效集的故障注入策略优化设计 179 5.4.5 小结 181 5.5 测试性综合评估方法 181 5.5.1 基于Bayes变动统计理论的测试性综合评估总体技术思路 182 5.5.2 系统FDR/FIR先验值确定方法 182 5.5.3 FDR