光电检测技术知识第一章 光和光的传播特性及光调制原理.pptVIP

第二章 光和光的传播特性及光调制原理;1.1 光和光的传播特性;光的基本性质;光的基本性质;光在光纤介质中的传播;光缆的外形及光纤的拉制;光纤的类型 ;梯度型：梯度型光纤的的折射率呈聚焦型，即在轴线上折射率最大，离开轴线则逐步降低，至纤芯区的边沿时，降低到与包层区一样。 ;单孔型光纤 ;;;n0为入射光线AB所在空间的折射率，一般皆为空气，故 n0≈1;当θr =90°的临界状态时， ;;;;;光纤液位传感器 ;1.2 光强度调制;光强调制的基本方法;1. 辐射式;应用实例;斯忒潘根据实验得出结论，物体的总的辐射出射度 与温度的四次方成正比。;2. 反射式激光测距、激光制导、主动式夜视仪、电视摄像、文字判读;例：检测产品外观质量;3. 遮挡式;设被测物体的宽度为b，物体遮挡光的位移量为 ，则物体遮挡入射光到光电探测器上的光的增量A为：;㈡　应用实例;4. 透射式;应用实例; 利用外界因素改变光波的相位，通过检测相位变化来测量物理量的原理称为光相位调制。光波的相位由光传播的物理长度、传播介质的折射率及其分布等参数决定，也就是说改变上述参量即可产生光波相位的变化，实现相位调制。但是，目前市场上的各类光探测器都是不能感知光波相位的变化，必须采用光的干涉技术将相位变化转变为光强变化，才能实现对外界物理量的检测，因此，光相位调制应包括两部分，一是产生光波相位变化的物理机理；二是光的干涉。;图1.2.3-6 干涉调制原理;2.光的衍射改变光的相位;1.4 光偏振调制;起偏器，; 旋光现象; 对于旋光性物质的溶液;2、旋光物质的分类; (二） 法拉第效应（磁光效应） 某些物质在磁场作用下，线偏振光通过时其振动面会发生旋转，这种现象称为法拉第效应。光的电矢量E旋转角θ与光在物质中通过的距离L和磁场强度H成正比，即;法拉弟发现，许多物质在磁场的作用下可使穿过它的平面偏振光的偏振方向旋转（在光的传播方向上加上强磁场时） ;;实 际 例 子;; 利用法拉第效应测磁场 实 验 装 置 图 ; 线偏振光从左面进入晶体，横向的直流磁场使YIG晶体在此方向上引起磁化饱和，而总的磁化强度矢量（由恒定磁场和线圈磁场所引起）可以改变方向，它对晶体轴的倾斜角度正比于线圈中的调制电流。 因为法拉弟旋转依赖于磁化强度的轴向分量，所以线圈电源控制了 角，检偏器按照马吕定律把这一偏振调制转换为振幅调制。也就是说，要传递的信息作为调制电压加在线圈上，则出射的激光束以振幅变化的形式携带着信息。 ;应当指出的是，应将法拉弟旋转和旋光性旋转加以区别，所指旋光性旋转，是指入射线偏振光的电场振动面在旋光材料中连接地旋转的现象。这种现象的一个特点是旋转方身与传播方向有关，当光线正反两次通过一个旋光性物质时，总旋转角度为零，而法拉弟旋转是与光传播方向无关的，正反两次通过法拉弟材料后，总的旋转角度为 。 ;; （三） 光弹效应 在垂直于光波传播方向上施加应力，被施加应力的材料将会使光产生双折射现象，其折射率的变化与应力有关，这种现象称为光弹效应。由光弹效应产生的偏振光的相位变化为： 式中：K — 物质光弹性常数； P — 施加在物体上的压强； L — 光波通过材料的长度。 此时出射光强为： 利用物质的光弹效应可以构成压力、振动、位移等光纤传感器。 ; ※ 关于双折射现象的说明 一束光在各向同性介质（如玻璃）的表面所产生的折射光只有一束，这是一般的常识。然而，对于光学性质随方向而异的一些晶体（各向异性介质），一束入射光常有被分解为两束的现象，这就是双折射现象。请注意，这种现象不是因为不同频率的光在介质中的折射率不同而产生的，而是由于各向异性介质的折射率对不同入射角的光不是常数而产生的。通过各向异性介质折射的光，若对于任意的入射角，其入射角; （四）电光效应 1.普克尔效应（一次电光效应） 当压电晶体受光照射，并在与光照正交的方向上加以高压电场时，晶体将呈现双折射现象，这种现象被称为Pockels效应，如下图所示。并且，这种双折射正比于所加电场的一次方，所以普克尔效应又称为线性电光效应。 在晶体中，两正交的偏振光的相位变化为 式中：n0 — 正常折射率；de — 电光系数；U — 加在晶体片上的电压；λ— 光波长；L — 晶体长度；d — 场方向晶体厚度。;? 克尔效应;若入射光的线偏振方向与外电场方向成450角，且M与N 偏振方向相互垂直，调节电压使其发生相