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基本技术知识篇-光信息存储技术知识 光信息存储技术知识电子教案.ppt
只读型光盘 1、只读型光盘系统的原理: 所有的只读型光盘系统都基于一个共同原理,即光盘上的信息以坑点形式分布,一系列的坑点(信息元)形成纹迹即信息记录道,如图所示。对LV盘和CD盘来讲,这种坑点分布包含着编码的视频和音频信息。对数据存储用的CD-ROM盘来讲,这种坑点分布用于读出或写入光点的导引。由于只读型光盘是生产厂家制造,为了大量复制,所以需要制作母盘。为此将存储信息以表面坑点形式转录在母盘上。母盘是一块平整的圆形玻璃衬底,厚约0.5cm,涂有约12um厚的光敏材料膜层。用一束待录信息调制光强并聚焦的激光束照射光敏膜层时,曝光的地方被吸收,局部地改变了光敏薄膜的性能。然后用化学溶液处理光敏膜,曝过光的光敏膜被溶解,从而显示出凹凸结构。 这种过程与集成电路生产中使用的微缩照相技术非常相似,所不同的是,要产生宽度大约0.6μm的坑点所需的光点不仅尺寸要小,而且强度要高,为此必须采用激光作为光源,并采用良好的光学系统才能实现。例如,当7MHZ视频载波实时录刻时,母盘上一个信息元或坑点曝光时间为70ns,为此需要25mW的激光束缩聚成直径小于lμm的光点。 对只读型光盘来说,各有自己的特征刻录信号,在母盘制造中信号的准备也是各不相同的。例如数据存储盘(CD-ROM)的录制与视盘、唱盘系统不同,信息以信息道、扇形区、标题形式录制,完全预先确定,并由电子标题发生器产生。 ??? 下图示出了激光录刻设备的光路原理图。波长为λ的激光器通过一个快速光调制器(通常用电光或声光调制器),按照处理线路的高频信号调制光束强度,在恒角速度方式中,母盘以恒定的角频率转动,记录光点必须随子盘半径的增大而增大,以使每单位表面的曝光能量相同。 这种慢速的光强变化可以用同一个快速光调制器完成。分光器将部分光束分出来,由检测器测量,再与半径确定的校正点比较。在恒线速度方式中,母盘以恒定线速转动,也就是曝光程度不变而角速度随半径缩小,用一个负场镜扩束之后,光就可以充满物镜的孔径,然后聚焦在转动的盘上。当物镜组件线性向外运动时,一道纹迹线就曝光出来。由母盘表面反射回来的光通过物镜在一个摄象机上成象,以检查录制过程中的聚焦情况。当驱动电流流过绕在物镜外的线圈时,物镜则跟踪母盘表面的垂直位移,并实现动态聚焦控制。为了确定纹迹的间距,物镜的线性移动和母盘的转动必须加以控制。 在一次写入型光盘中,记录数据以直接可读的方式录刻在光盘上。显然这种在线数据存储,正是光学录刻在计算机存储装置中应用的出发点。在这些应用中存储的数据往往是专用的,所以一般根据用户的要求进行。一旦录刻完毕,存储数据就不能再行改写,这种情况相当于PROM半导体存储器。本质上讲,一次写入型光盘的信息存储机理与前述只读型光盘是一样的。不同之处在于其调制激光束输出强度要高得多,即用增加激光光点功率,使光盘的光敏层上直接写入光学可读的结果,从而实现数据存储。如前图(b)所示,为了得到机械强度,需要用一块衬底(塑料、玻璃等)来支承非常薄的光敏膜。光敏膜可以是低熔点的薄金属或半金属,也可以是有机物质敏感膜.当用强激光束照射薄膜时,一个人射功率为5mW、100ns的聚焦光脉冲可使薄膜温度上升到 1000K。在此温度下,可以在膜层上烧蚀或蒸发出凹坑点(信息元)。由于膜层上几何形状的变化引起较大的光学反差,从而可用光学方法检测这种效益,读出所录制的信息。 2.一次写入型光盘的信息存储机理 可重写光盘 目前可重写光盘的记录方式主要有磁光光盘,相变光盘两类。磁光是依据磁畴的磁极方向对于偏振光的旋转角不同实现读写的。因为磁光盘在读写原理上很难和普通的只读类光盘统一,所以虽然磁光盘在一定范围内得到了广泛的发展,但始终无法与CD-ROM驱动器相兼容,此外由于其在改写时需先擦除再写入,所以速度上难有突破。基于相变原理的可重写盘,如PD,虽然在早期发展并不尽如人意,但由于它已完全摆脱了磁的束缚,且可以和CD类光盘的读写方式相统一,在CD-RW发展时便以此为存储机理。 相变光记录 采用的是一种具有晶体/非晶体状态可逆转换特性的材料,记录时使用一种温度,而擦除时采用另一种温度。对可擦写媒质,从晶体到非晶体的变化一般用于记录数据,其逆变过程用于擦除记录信息。 用激光加热记录层,使聚焦点的温度略高于它的熔点而冷却凝固时,就变成非晶体。由于非晶体状态不稳定,材料易于反变,因此,当该点加热到稍低于熔点的温度再冷却时,就返回晶态,数据则被擦除。 可重写相变光盘原理 物质的分子或原子不仅有三态,而且在同一类固体金属中分子和原子的排列形式也有不同,这种不同被称之为相。这种微观结构是很重要的,因为物质本身的宏观特性是由此决定的。当原子是整齐排列
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