X射线荧光光谱法分析矿石样品时的精确应用.docVIP

X射线荧光光谱法分析矿石样品时的精确应用 粉末压片-X射线荧光光谱法工作曲线的精确调整 申卫龙 （巴彦淖尔西部铜业有限公司质检中心， 临河 015000） 摘要：应用Ｘ射线荧光光谱法分析了矿石样品。将粉碎至粒径为０．０８８ｍｍ的矿样用 模压法在３２ＭＰａ压力条件下加压４０ｓ，压制成直径为４０ｍｍ，厚度为３ｍｍ的片样。试验从生产线上选取１５个其中各组分元素含量呈梯度分布的样品以抵消其基体效应，并选用一组已知样品制作工作曲线。以ＭＸＦ-２４００型Ｘ射线荧光光谱仪所附带的ＰＣ-ＭＸＦ-Ｅ软件中的校正公式，通过化学计量学处理，包括拟合评估、遗传算法及收敛条件的满足等，达到了Ｘ射线荧光光谱法分析矿石样品时工作曲线的精确调整。应用此方法分析了一件地质样品，所测定的铜、铅、锌３种元素的含量与化学法所测得的结果完全一致，又用同一样片对其中的５项组分进行６次测定，所得测定值的相对标准偏差均小于5％。 关键词：Ｘ射线荧光光谱法；工作曲线；精确调整；矿样 测定矿石中各组分含量的传统方法为化学法[1] ，然而随着现代化建设的不断深入，金属矿产、金属加工产业的现代化和规模化对检测手段提出了更快更准的要求。通常采用的滴定法、光度法、原子吸收光谱法、电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-AES）[2]等检测方法过程相对繁琐、操作复杂，分析时间过长，已经不能满足及时、准确指导实际生产的需求。X射线荧光光谱法（XRF）具有测试成本低、分析速度快、精确度高、重现性好、可同时测定多种元素等优点[3-6]，目前国内外文献中用XRF法测定岩石、土壤中各元素的方法研究较多[7-8]，已广泛应用于矿产采选、金属冶炼、金属精炼和新材料制备等众多行业。粉末压片-XRF是其中最简单，最快捷，而且稳定、环保的首选方法。 在粉末压片-XRF分析中，用适合的标准样品绘制出适宜的工作曲线是决定仪器高效分析的前提和关键，否则所有的工作都是徒劳的。本次试验基于XRF中的化学计量学方法和应用的数学、统计学原理 [9]，利用偏差法对工作曲线进行优化调整，最终使之取代传统化学法，充分满足了金属矿产采选、冶炼、深加工等各级生产线及时、准确的检测需求。为监 1 收稿日期：2012-10-5 作者简介：申卫龙（1983—），男，蒙古族，内蒙古赤峰人，助理工程师，学士学位，主要从事岩矿分析工作；E-shenwei.long@163.com 控生产工艺、优化生产流程及时提供准确的指导数据，在起到高效引导生产作用的同时为企业创造出巨大的经济效益。 1. 试验部分 1.1 仪器与试剂 岛津MXF-2400多道型X射线荧光光谱仪，PCMF软件。 BP-1型粉末压样机，聚氯乙烯塑料环。 GJ100-5型密封式化验制样粉碎机。 1.2 仪器工作条件 薄窗口型，75μm，铑靶X射线管，管电压40 kV，管电流70 mA。其他测量条件见表1。 表1仪器工作参数 Table. 1 Working parameters of instrument 元素 分析谱线 分光晶体 Cu Pb Zn Fe S Ka Lb1 Ka Ka Ka LiF LiF LiF LiF NaCl 2θ/() 45.03 28.26 41.80 57.52 110.60 。 检测器 测量时间t/s Ar Ar Ar Ar Ne 40 40 40 40 40 脉冲高度分布 LL 15～105 30～160 15～115 5～190 10～150 ① UL ①脉冲高度分布是通过脉冲高度分析器选择出的的脉冲幅度的最小(LL)和最大阈值(UL)，是从某些干扰线和散射线中分辨出的分析线脉冲信号。可以在一定范围内消除重叠干扰，提高分析的灵敏度和准确度。 1.3 试验方法 1.3.1. 样品制备 将样品放入振动磨样机中研磨4min，制成粒径为0.088mm(180目) [10]的粉末，以满足均匀致密的要求的同时也降低了粒度效应[11]。用四分法得到试样，取适量的试样填满聚氯乙烯塑料环，用不锈钢样坯磨具垫底，置于粉末压样机上，在32MPa压力下，保压40s，制成高3mm、直径40mm、表面光洁、无裂痕的样片。用洗耳球将样片表面吹干净后按顺序放置。 1.3.2. 标准样品的选择与工作曲线的绘制 为了保证基体信息的相同性、提高仪器测定结果的准确度，此次试验从生产样品中选取15个各元素含量成梯度分布的常规系列样品作为标准样品。将已反复经过化学定值和权威机构外检的校准样品按照试验方法制片，在选定的仪器工作条件下测定各元素的荧光强度，以目标元素含量为横坐标，对应的荧光强度为纵坐标，绘制工作曲线。 1.3.3. 工作曲线的校正 在XRF的矿产分析中基体效应普遍存在，是分析误差的主要来源。因为选择的标准样品为生产线上的系列样品，其组分相对较为稳定，采用dj方法校