Atom Force Microscopy-原子力显微镜知识讲稿.pptVIP

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2018-05-29 发布于天津
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Atom Force Microscopy-原子力显微镜知识讲稿.ppt

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Atom Force Microscopy Name：He Peng Student ID:201521034001 Content EFM SNOM KPFM AFM LFM STM SPM MFM LOREM IPSUM DOLOR LOREM IPSUM DOLOR AFM Principle AFM Operating Mode Contact mode Non-contact mode Tapping Mode KPFM Application Surface topography Work function Contact potential difference Surface photovoltage Density of state Hall effect Surface Topograph and Work Function Contact Potential Difference Surface Photovoltage DOS in CuPC S（source）、D（drain） DOS is the surface potential derivative to the gate voltage Hall Effect T H A N K ~ S