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第六篇 章 红外成像器件及系统 光电成像课件.ppt
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第六章 红外成像器件及系统
红外探测器
红外热成像系统
2
红外成像:获取目标红外辐射分布情况并显示
特点:自然界一切物体都是红外辐射源,红外辐射强度和波长取决于物体的温度。
应用:军事、工业、科研、医疗
优势:隐蔽性好,抗干扰能力强,透烟尘能力强,可昼夜工作
3
红外探测器
红外探测器的分类
——检测红外辐射并转换为电信号的器件
物体吸收红外辐射
温度升高,体积、折射率、电导率、极化强度、温差电动势、材料内部电子运动状态等变化。
4
热探测器
1、 热释电探测器
利用热释电效应探测辐射能量。
优点:CCD配合可实现工作时不制冷。
典型代表LiTaO3 和PZT,稳定性好,探测率高。
2、 微测辐射热计
利用材料吸收热辐射后温度变化,引起电阻、电容的变化原理。
优点:不需制冷、线性响应好、高动态范围、像元间相互影响小。
缺点:偏置功率受耗散功率限制、噪声带宽大。
3、 微测辐射热电堆
若干个基于温差电效应的测辐射热电偶串接。
优点:响应率高、性能稳定、结构牢固、
在较宽波长范围均匀响应,无需制冷。
5
光子探测器
1、 光电子发射探测器
利用外光电效应制成的可见光探测器和红外辐射探测器。
缺点:多数光电子发射探测器只对可见光作用,能够用于
近红外的光阴极很少,波长范围受限。
2、 光电导探测器
利用光电导效用制成的红外探测器。
优点:结构简单,种类多,响应波长范围宽,属于研究
和应用最广的光子探测器。
3、 光伏探测器
利用光生伏特效应制成的探测器。
优点:响应速度快,结构利于排成二维阵列。本征吸收光,
光谱响应长波限一般为中远红外区。
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响应度:
红外探测器的性能参数
噪声等效功率NEP和噪声等效辐照度NEI
入射到探测器上的单位辐射功率所产生信号大小的能力。探测器输出
信号电压(电流)均方根值与输入辐射功率均方根值的比值。
噪声:输出信号中与入射信号无关的部分。
NEP为输出信噪比为1时的入射红外辐射功率,单位W。
NEI为输出信噪比为1时的输入辐照度。
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探测率D和归一化探测率D *:
响应时间:
适应人们的习惯,定义的衡量探测器能力的因子:探测率。
为了比较不同探测器性能,定义归一化探测率。
探测器将入射辐射转换为电输出的弛豫时间
利用频率响应描述时间响应
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典型的红外探测器
a
b
c
a. 本征光电探测器
b. 杂质光电导探测器
c. 自由载流子光电导探测器
:工作温度比非本征型高。
:长波响应较好,常需低温工作。
:需制冷到液氦温度(4.2K)
主要用于远红外。
光电导型探测器
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红外焦平面阵列探测器(IRFPA)
光子探测器:1~3μm,3~5μm,8~12μm
热探测器:整个红外波段,不需制冷
结构分类:单片式、混合式、Z平面式
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红外焦平面阵列探测器(IRFPA)
光子探测器阵列IRFPA
需要制冷,低温情况下工作,降低探测器噪声、提高信噪比和灵敏度。
用于红外遥感、军事目标的探测和制导等高性能要求领域,成本高。
目前Hg1-xCdxTe是研究重点,通过改变x配比,可以获得不同的响应波段,
如:Hg0.8Cd0.2Te对应 8~14μm; Hg0.72Cd0.28Te对应 3~5μm。
热探测器阵列IRFPA
不需要制冷,体积小、质量轻、功耗低,价格低廉。
灵敏度较制冷型IRFPA低1个量级以上,广泛应用于民用和准军事
凝视型红外成像系统。
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红外成像系统
红外热成像系统的分类
———收集、探测景物的辐射能,形成与景物辐射分布相 对应的热图像的成像系统。
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光机扫描型红外热成像系统
优点:图像对比度好
缺点:结构复杂,成本高
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凝视型红外热成像系统
取消光机扫描,采用红外焦平面阵列探测器,制冷器根据IRFPA类型
决定。
优点:无扫描系统,结构简化
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热成像系统的基本参数
瞬时视场角(IFOV)
帧周期Tf和帧频fp
扫描效率ηscan
空间角频率fx
探测器线性尺寸对系统物空间的张角,体现系统空间分辨率。
扫过完整画面所需的时间Tf ,系统每秒扫过的画面帧数fp 。
有效扫描时间与帧周期之比。
空间周期与观察距离之比为角周期,角周期的倒数为空间角频率。
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过扫比Os
总视场FOV
驻留时间τd
时间频率ft与空间频率fx的关系
相邻两行瞬时视场之间可能存在的重叠或间隙,用来表征
重叠程度的系数。
系统观察的物空间两维视场角Wh和Wv。
光机扫描热成像系统重要参数,扫过一个探测器张角所需要的时间。
光机扫描热成像系统的空间频率与时间频率相关。
图像所含像元数目:
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热成像系统的优点及应用
优点:被动式成像,不易被发现;更强的透过雾、霾、雨、雪,
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